دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Fundamentals of Atomic Force Microscopy: Part I: Foundations
دانلود کتاب مبانی میکروسکوپ نیروی اتمی: بخش اول: مبانی
مشخصات کتاب
Fundamentals of Atomic Force Microscopy: Part I: Foundations
ویرایش:
نویسندگان: Ronald Reifenberger
سری: Lessons from Nanoscience: A Lecture Notes Vol. 4
ISBN (شابک) : 9814630349, 9789814630344
ناشر: World Scientific Publishing Co
سال نشر: 2016
تعداد صفحات: 341
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 13 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 34,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Fundamentals of Atomic Force Microscopy: Part I: Foundations به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب مبانی میکروسکوپ نیروی اتمی: بخش اول: مبانی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب مبانی میکروسکوپ نیروی اتمی: بخش اول: مبانی
میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار بسیار بین رشته ای است که
اندازه گیری نمونه ها را در مایع، خلاء یا هوا با وضوح بی سابقه
ای امکان پذیر می کند. استفاده هوشمندانه از این ابزار مستلزم
دانش بسیاری از زمینه های تحصیلی متمایز است. هدف این یادداشت های
سخنرانی ارائه دانش لازم برای استفاده معقول از AFM برای
دانشجویان پیشرفته و فارغ التحصیلان مبتدی در تمام زمینه های علوم
و مهندسی است. مطالب پس زمینه مرتبط اغلب عمیقاً بررسی می شود و
به سبک آموزشی و خود گامی خلاصه می شود تا درک اساسی از اصول علمی
زیربنای استفاده و عملکرد AFM ارائه شود.
به عنوان یک راهنمای مطالعه برای اصول اولیه مفید است. AFM. این
عنوان همچنین برای دوره کارشناسی ارشد/لیسانسی مستقل خواندن و
تحقیق در AFM (با ترکیب کتاب و ویدیوهای آنلاین) مناسب
است
تعداد خوانندگان: دانش آموختگان پیشرفته و فارغ التحصیلان فیزیک، شیمی، علوم مواد و رشته های مهندسی با علاقه به میکروسکوپ نیروی اتمی و کاربردهای آن در فناوری نانو
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary
instrument that enables measurements of samples in liquid,
vacuum or air with unprecedented resolution. The intelligent
use of this instrument requires knowledge from many distinct
fields of study. These lecture notes aim to provide advanced
undergraduates and beginning graduates in all fields of science
and engineering with the required knowledge to sensibly use an
AFM. Relevant background material is often reviewed in depth
and summarized in a pedagogical, self-paced style to provide a
fundamental understanding of the scientific principles
underlying the use and operation of an AFM.
Useful as a study guide to Fundamentals of AFM. This title is
also suitable for Graduate/Undergraduate Independent Reading
and Research Course in AFM (with the combination of book and
online videos)
Readership: Advanced undergraduates and graduates in physics, chemistry, materials science and engineering disciplines with an interest in Atomic Force Microscopy and its applications in nanotechnology.
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب Experience and Judgment
دانلود کتاب El tiempo en ruinas
