Fundamental Principles of Engineering Nanometrology

کار در مقیاس نانو مستلزم درک تکنیک‌های اندازه‌گیری با دقت بالا است که فناوری نانو و ساخت پیشرفته را ممکن می‌سازد. ریچارد لیچ این تکنیک ها را به مخاطبان وسیعی از مهندسان و دانشمندان درگیر در فناوری نانو و کاربردها و تحقیقات تولیدی معرفی می کند. او همچنین یک نقشه مسیر و ابزار برای مترولوژیست هایی که با دقت اندازه گیری و تجزیه و تحلیل داده ها در مقیاس نانو درگیر هستند، ارائه می دهد. نویسنده با شروع از مبانی اندازه‌گیری دقیق، به سمت تکنیک‌های اندازه‌گیری و خصوصیات مختلف پیش می‌رود.

تمرکز بر نانومترولوژی در زمینه‌های مهندسی، این کتاب را به یک راهنمای ضروری برای بخش نوظهور نانوساخت / نانوساخت، جایی که اندازه‌گیری و استانداردسازی می‌کند تبدیل می‌کند. الزامات هم در مشخصات محصول و هم در تضمین کیفیت مهم هستند. این کتاب روش‌ها و درک مورد نیاز برای طراحی و تولید محصولات با کارایی بالا و با عمر طولانی را در اختیار مهندسان و دانشمندان قرار می‌دهد و در عین حال تضمین می‌کند که الزامات انطباق و بهداشت عمومی برآورده می‌شوند.

به‌روزرسانی شده برای پوشش فناوری‌های جدید و نوظهور، و تحولات اخیر در استانداردها و چارچوب های نظارتی، این ویرایش دوم شامل بسیاری از بخش های جدید است، به عنوان مثال. فن‌آوری‌های جدید در کاوشگر روبشی و میکروسکوپ پرتو الکترونیکی، پیشرفت‌های اخیر در تداخل سنجی و پیشرفت‌ها در اندازه‌شناسی مختصات.

• نانومترولوژی را برای مخاطبان گسترده‌ای از مهندسان، دانشمندان و دانشجویان درگیر در فناوری نانو و نانوتکنولوژی را رمزگشایی می‌کند. کاربردها و تحقیقات ساخت پیشرفته
• متروولوژیست ها را با تکنیک ها و تجهیزات خاص درگیر در اندازه گیری در مقیاس نانو یا عدم قطعیت در مقیاس نانو آشنا می کند
• به طور کامل برای پوشش آخرین پیشرفت های فناوری به روز شده است. استانداردها و مقررات

Working at the nano-scale demands an understanding of the high-precision measurement techniques that make nanotechnology and advanced manufacturing possible. Richard Leach introduces these techniques to a broad audience of engineers and scientists involved in nanotechnology and manufacturing applications and research. He also provides a routemap and toolkit for metrologists engaging with the rigor of measurement and data analysis at the nano-scale. Starting from the fundamentals of precision measurement, the author progresses into different measurement and characterization techniques.

The focus on nanometrology in engineering contexts makes this book an essential guide for the emerging nanomanufacturing / nanofabrication sector, where measurement and standardization requirements are paramount both in product specification and quality assurance. This book provides engineers and scientists with the methods and understanding needed to design and produce high-performance, long-lived products while ensuring that compliance and public health requirements are met.

Updated to cover new and emerging technologies, and recent developments in standards and regulatory frameworks, this second edition includes many new sections, e.g. new technologies in scanning probe and e-beam microscopy, recent developments in interferometry and advances in co-ordinate metrology.

• Demystifies nanometrology for a wide audience of engineers, scientists, and students involved in nanotech and advanced manufacturing applications and research
• Introduces metrologists to the specific techniques and equipment involved in measuring at the nano-scale or to nano-scale uncertainty
• Fully updated to cover the latest technological developments, standards, and regulations