Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis, Correction and Repair

با توجه به افزایش چشمگیر پیچیدگی طراحی، مدارهای مدرن اغلب با خطاهای عملکردی تولید می شوند. در حالی که بهبود در راستی‌آزمایی به مهندسان اجازه می‌دهد تا خطاهای بیشتری را پیدا کنند، رفع این خطاها همچنان یک کار دستی و چالش برانگیز است. خطاهای طراحی عملکردی در تشخیص مدارهای دیجیتال طیف وسیعی از روش‌های نوآورانه را برای خودکارسازی فرآیند اشکال‌زدایی در طول جریان طراحی پوشش می‌دهد: از سطح ثبت-انتقال (RTL) تا قالب سیلیکونی. به طور خاص، این کتاب شرح می دهد: (1) تکنیک هایی برای به حداقل رساندن ردیابی اشکال که اشکال زدایی را ساده می کند. (2) یک روش تشخیص خطای RTL که مستقیماً علت اصلی خطاها را شناسایی می کند. (3) یک چارچوب تعمیر خطا با هدایت مثال متقابل برای رفع خودکار خطاها در طراحی‌های سطح دروازه و RTL. (4) یک فناوری سیم کشی مجدد مبتنی بر تقارن برای رفع خطاهای الکتریکی. (5) یک سیستم تأیید افزایشی برای سنتز فیزیکی. و (6) یک چارچوب یکپارچه برای اشکال زدایی و تعمیر طرح بندی پس از سیلیکون. علاوه بر این، خطاهای طراحی عملکردی در تشخیص مدارهای دیجیتال ارزیابی جامعی از روش‌های درج سلول یدکی را توصیف می‌کند. راه‌حل‌های ارائه‌شده در این کتاب می‌تواند تلاش‌های رفع اشکال را تا حد زیادی کاهش دهد، کیفیت طراحی را افزایش دهد، و در نهایت امکان طراحی و ساخت دستگاه‌های الکترونیکی قابل اعتمادتر را فراهم کند.

Due to the dramatic increase in design complexity, modern circuits are often produced with functional errors. While improvements in verification allow engineers to find more errors, fixing these errors remains a manual and challenging task. Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. In addition, Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis describes a comprehensive evaluation of spare-cell insertion methods. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices.