دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: Paulo Cappelletti, Carla Golla, Piero Olivo, Enrico Zanoni (auth.) سری: ISBN (شابک) : 9780792384878, 9781461550150 ناشر: Springer US سال نشر: 1999 تعداد صفحات: 544 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 12 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب فلش مموری ها: مدارها و سیستم ها، مهندسی برق، معماری پردازنده
در صورت تبدیل فایل کتاب Flash Memories به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب فلش مموری ها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
فلش مموری یک حافظه غیر فرار (NVM) است که \"سلولهای واحد\" آن در فناوری CMOS ساخته شده و به صورت الکتریکی برنامهریزی و پاک میشوند. در سال 1971، Frohman-Bentchkowsky یک تران سیستور دروازه پلی سیلیکونی فولات [1، 2] را توسعه داد، که در آن الکترون های داغ در دروازه شناور تزریق می شوند و توسط تابش نوری داخلی ماوراء بنفش (UV) یا توسط تونل فاولر نوردهایم حذف می شوند. این \"سلول واحد\" EPROM (حافظه فقط خواندنی قابل گرامر الکتریکی Electrically Pro) است که از یک ترانزیستور تشکیل شده است و می تواند بسیار متراکم باشد. حافظه های EPROM به صورت الکتریکی برنامه ریزی شده و با قرار گرفتن در معرض UV به مدت 20-30 دقیقه پاک می شوند. در اواخر دهه 1970، تلاشهای زیادی برای توسعه یک EPROM پاکشدنی الکتریکی صورت گرفت که منجر به ایجاد EEPROM (رمهای قابل برنامهریزی با قابلیت پاکسازی الکتریکی) شد. EEPROM ها از تونل الکترون داغ برای برنامه و از تونل فاولر-نوردهایم برای پاک کردن استفاده می کنند. سلول EEPROM از دو ترانزیستور و یک اکسید تونلی تشکیل شده است، بنابراین اندازه آن دو یا سه برابر یک EPROM است. به طور متوالی، ترکیبی از برنامه نویسی حامل داغ و پاک کردن تونل برای دستیابی به یک ترانزیستور EEPROM، به نام Flash EEPROM، دوباره کشف شد. اولین سلول بر اساس این مفهوم در سال 1979 ارائه شد [3]. اولین محصول تجاری، یک تراشه حافظه 256K، توسط توشیبا در سال 1984 ارائه شده است [4]. تا زمانی که این فناوری قابل اعتماد و قابل ساخت بودن ثابت نشد، بازار شروع به کار نکرد [5].
A Flash memory is a Non Volatile Memory (NVM) whose "unit cells" are fabricated in CMOS technology and programmed and erased electrically. In 1971, Frohman-Bentchkowsky developed a folating polysilicon gate tran sistor [1, 2], in which hot electrons were injected in the floating gate and removed by either Ultra-Violet (UV) internal photoemission or by Fowler Nordheim tunneling. This is the "unit cell" of EPROM (Electrically Pro grammable Read Only Memory), which, consisting of a single transistor, can be very densely integrated. EPROM memories are electrically programmed and erased by UV exposure for 20-30 mins. In the late 1970s, there have been many efforts to develop an electrically erasable EPROM, which resulted in EEPROMs (Electrically Erasable Programmable ROMs). EEPROMs use hot electron tunneling for program and Fowler-Nordheim tunneling for erase. The EEPROM cell consists of two transistors and a tunnel oxide, thus it is two or three times the size of an EPROM. Successively, the combination of hot carrier programming and tunnel erase was rediscovered to achieve a single transistor EEPROM, called Flash EEPROM. The first cell based on this concept has been presented in 1979 [3]; the first commercial product, a 256K memory chip, has been presented by Toshiba in 1984 [4]. The market did not take off until this technology was proven to be reliable and manufacturable [5].
Front Matter....Pages i-xi
Flash Memories: An Overview....Pages 1-35
The Industry Standard Flash Memory Cell....Pages 37-90
Binary and Multilevel Flash Cells....Pages 91-152
Physical Aspects of Cell Operation and Reliability....Pages 153-239
Memory Architecture and Related Issues....Pages 241-360
Multilevel Flash Memories....Pages 361-397
Flash Memory Reliability....Pages 399-441
Flash Memory Testing....Pages 443-479
Flash Memories: Market, Marketing and Economic Challenges....Pages 481-526
Back Matter....Pages 527-540