ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Festkörperanalysen mit dem Massenspektrometer

دانلود کتاب تجزیه و تحلیل حالت جامد با طیف سنج جرمی

Festkörperanalysen mit dem Massenspektrometer

مشخصات کتاب

Festkörperanalysen mit dem Massenspektrometer

ویرایش: 1 
نویسندگان: , , ,   
سری: Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen 1650 
ISBN (شابک) : 9783663063100, 9783663072232 
ناشر: VS Verlag für Sozialwissenschaften 
سال نشر: 1966 
تعداد صفحات: 43 
زبان: German 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 941 کیلوبایت 

قیمت کتاب (تومان) : 36,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب تجزیه و تحلیل حالت جامد با طیف سنج جرمی: علم، عمومی



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 7


در صورت تبدیل فایل کتاب Festkörperanalysen mit dem Massenspektrometer به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل حالت جامد با طیف سنج جرمی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب تجزیه و تحلیل حالت جامد با طیف سنج جرمی

II. طیف سنج جرمی MS7 AEI. ........ .... . .... .... . ... روش آنالیز 8 lIL 1. آماده سازی نمونه . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. 10 2. تحلیل کیفی ................................... 11 3. تجزیه و تحلیل کمی ..................................... 12 IV. نمونه هایی از تجزیه و تحلیل ..... ..................................... 16 V. بحث علل خطا .. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. 24 VI. بحث در مورد روش های مختلف ارزشیابی ... . . . . . . . . . . . . .. 28 VII خلاصه . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. 32 هشتم. کتابشناسی .......................................... 33 5 1. مقدمه اگرچه DEMP STER [1] به کاربرد تحلیلی جرقه های خلاء در طیف سنجی جرمی حالت جامد در اوایل سال 1946 اشاره کرد، این تکنیک برای اولین بار در سال 1954 توسط HANNAY [2] برای تجزیه و تحلیل ردیابی در مواد نیمه هادی مورد استفاده قرار گرفت. مشکل اصلی در آنالیز طیف‌سنجی جرمی جامدات، تولید یک پرتو یونی از ماده نمونه است که نسبت یون‌های مختلف آن مشخصه ترکیب نمونه است. این نیاز تقریباً با منبع یونی \\\"فرکانس بالا\\\" برآورده می شود. به دلایل زیر امکانات جدیدی برای تجزیه و تحلیل ارائه می دهد: 1. جریان های یونی شدید را می توان از همه عناصر تولید کرد - بدون استثنا. 2. ترکیب پرتو یونی تا حد زیادی با ترکیب نمونه مطابقت دارد. 8 3. سطوح ردیابی 1 در 10 و کمتر را می توان بدون پیش غنی سازی شیمیایی تشخیص داد. 4. تجزیه و تحلیل خلاصه (بدون نمونه مرجع از ترکیب شناخته شده) که کل جدول تناوبی را پوشش می دهد تنها چند ساعت طول می کشد. 5. تجزیه و تحلیل ردیابی کمی با انحراف استاندارد نسبی 1 حدود 0.30 با استانداردهای مقایسه مناسب امکان پذیر است. از آنجایی که منبع یون جرقه یون هایی با محدوده انرژی چند ke V تولید می کند، طیف سنج های جرمی با تمرکز دوگانه برای جداسازی یون ها مورد نیاز است.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

II. Das Massenspektrometer MS7 von AEI . ... .... .... . ... . ... . . ... 8 lIL Analysenmethode 1. Probenvorbereitung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. 10 2. Qualitative Analyse ........................................ 11 3. Quantitative Analyse ....................................... 12 IV. Analysenbeispiele ............................................ 16 V. Diskussion der Fehlerursachen .. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. 24 VI. Diskussion der verschiedenen Auswerteverfahren ... . . . . . . . . . . . . .. 28 VII. Zusammenfassung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. 32 VIII. Literaturverzeichnis .......................................... 33 5 1. Einleitung Obwohl DEMP STER [1] bereits 1946 auf die analytische Anwendung des Vakuum­ funkens in der Festkörpermassenspektroskopie hingewiesen hat, wurde diese Technik erstmals 1954 von HANNAY [2] zur Spurenanalyse in Halbleitermaterial benutzt. Das Hauptproblem bei der massenspektroskopischen Analyse von Festkörpern ist nämlich, von der Probensubstanz einen Ionenstrahl zu erzeugen, dessen Anteil an den verschiedenen Ionen charakteristisch für die Z usammensetzung der Pro be ist. Diese Forderung wird mit der \"Hochfrequenz\"-Ionenquelle angenähert erfüllt. Sie bietet neue Möglichkeiten für die Analyse, und zwar aus folgenden Gründen: 1. Von allen Elementen - ohne Ausnahme - lassen sich intensive Ionenströme erzeugen. 2. Die Zusammensetzung des Ionenstrahles entspricht weitgehend der Zusam­ mensetzung der Probe. 8 3. Spurengehalte von 1 in 10 und darunter können ohne chemische Voran­ reicherung erfaBt werden. 4. Übersichtsanalysen (ohne Eichproben mit bekannter Zusammènsetzung), die das ganze Periodensystem umfassen, dauern nur wenigt Stunden. 5. Quantitative Spurenanalysen mit einer relativen Standardabweichung von 1 etwa 0,30 sind mit geeigneten Vergleichsstandards möglich . Da die Funkenionenquelle Ionen mit einer Energiebreite von einigen ke V erzeugt, sind für die Trennung der Ionen doppelfokussierende Massenspektrometer not­ wendig.



فهرست مطالب

Front Matter....Pages 1-5
Einleitung....Pages 7-7
Das Massenspektrometer MS 7 von AEI....Pages 8-9
Analysenmethode....Pages 10-15
Analysenbeispiele....Pages 16-23
Diskussion der Fehlerursachen....Pages 24-27
Diskussion der verschiedenen Auswerteverfahren....Pages 28-31
Zusammenfassung....Pages 32-32
Literaturverzeichnis....Pages 33-33
Back Matter....Pages 35-46




نظرات کاربران