دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Prof. Tinghuai Chen (auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9783540549628, 9783642771798
ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg
سال نشر: 1992
تعداد صفحات: 206
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 12 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب عیبیابی و تحمل خطا: رویکردی سیستماتیک به موضوعات خاص: طراحی منطق، الکترونیک و میکروالکترونیک، ابزار دقیق، ترکیبیات
در صورت تبدیل فایل کتاب Fault Diagnosis and Fault Tolerance: A Systematic Approach to Special Topics به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب عیبیابی و تحمل خطا: رویکردی سیستماتیک به موضوعات خاص نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
با رشد سریع مقیاس یکپارچه سازی تراشه های VLSI و نیاز کنونی به رایانه های قابل اعتماد در اکتشافات فضایی، تشخیص خطا و تحمل خطا بیش از پیش اهمیت یافته است و از این رو موضوعات جالب زیادی را آشکار می کند که بسیاری از محققان را به خود جذب می کند. تا سهم زیادی در این زمینه داشته باشد. در سال های اخیر، نتایج جدید و قابل توجه زیادی به دست آمده است. یک اسکن سریع از مجموعه مقالات کنفرانس های محاسباتی مقاوم به خطا و اتوماسیون طراحی و همچنین آزمایش، خواننده را متقاعد می کند. اما متأسفانه این دستاوردها به طور کامل در کتابهای درسی منعکس نشده است، به طوری که به نظر میرسد برای محقق جدیدی که از قبل دانش اولیه را دارد و میخواهد در این زمینه تحقیقاتی را آغاز کند، خلأ وجود دارد. به عنوان یک درمان برای این کمبود، این کتاب برای مبتدیان، به ویژه دانشجویان تحصیلات تکمیلی، به عنوان یک کتاب درسی در نظر گرفته شده است که آنها را به مرز برخی از شاخههای رشته محاسباتی مقاوم در برابر خطا هدایت میکند. فصل اول منطق چهار ارزشی B4 و کاربردهای آن را معرفی می کند. در سال 1966 راث برای اولین بار این منطق چهار ارزشی را به عنوان تکنیکی برای تولید آزمایش برای مدارهای منطقی پیشنهاد کرد، اما این کار به مبنای ریاضی خود B4 مربوط نمیشود.
With the rapid growth of integration scale of VLSI chips and the present need for reliable computers in space exploration, fault diagnosis and fault toleran ce have become more important than before, and hence reveal a lot of interest ing topics which attract many researchers to make a great number of contribu tions to this field. In recent years, many new and significant results have been achieved. A quick scan over the proceedings of the conferences on fault tolerant computing and design automation as well as on testing will convince the reader of that. But unfortunately these achievements have not been entire ly reflected in the textbooks, so that there seems to be a gap for the new researcher who already has the basic knowledge and wants to begin research in this area. As a remedy for this deficiency, this book is intended for begin ners, especially graduate students, as a textbook which will lead them to the frontier of some branches of the fault-tolerant computing field. The first chapter introduces the four-valued logic B4 and its applica tions. In 1966 Roth first proposed this four-valued logic as a technique to generate tests for logical circuits, but this work did not concern the mathe matical basis of B4 itself.
Front Matter....Pages I-XII
Four-Valued Logic and Its Applications....Pages 1-64
Computer System Diagnosis and Society Diagnosis....Pages 65-94
Testability Design via Testability Measures....Pages 95-118
NMRC: A Technique for Redundancy....Pages 119-134
Fault Tolerance of Switching Interconnection ß-Networks....Pages 135-156
The Connectivity of Hypergraph and the Design of Fault Tolerant Multibus Systems....Pages 157-183
TMR Design of Distributed System for Sequential Faults....Pages 185-197