دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Puligandla Viswanadham. Pratap Singh (auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9781461377634, 9781461560296
ناشر: Springer US
سال نشر: 1998
تعداد صفحات: 389
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 10 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب حالت ها و مکانیسم های خرابی در بسته های الکترونیکی: مدارها و سیستم ها، مهندسی برق، تولید، ماشین آلات، ابزار، سازه های کنترل و ریزبرنامه ریزی
در صورت تبدیل فایل کتاب Failure Modes and Mechanisms in Electronic Packages به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب حالت ها و مکانیسم های خرابی در بسته های الکترونیکی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
آنهایی از ما که در عصر بستهبندی الکترونیکی \"از طریق سوراخ\" بزرگ شدهاند احتمالاً از رشد باورنکردنی قابلیت عملکرد الکترونیکی بیشتر از فرزندانمان شگفت زده و قدردان هستیم. پسرم که دانشجوی مهندسی برق است، به نظر میرسد نوآوریهایی را که گاهی اوقات من را تا حدودی شگفتزده میکند، بدیهی میداند. طراحان مدارهای الکترونیکی از بسته بندی پانچ بیشتر در حجم کمتر لذت می برند، در حالی که به ما یادآوری می کنند که کار آنها به طور فزاینده ای چالش برانگیز شده است. این فرد عادی همچنین از رسانه ها آموخته است که صنعت در کوچک کردن ترانزیستور و افزایش قدرت "تراشه" معجزه کرده است. توجه زیادی روی سیلیکون و ابزارهای تولید و سرگرمی شگفت انگیزی که اکنون می بینیم متمرکز شده است. در دفاتر و منازل ما بین سیلیکون و محصول نهایی، دنیای کمتر تبلیغاتی بسته بندی در سطح مدار قرار دارد. ما این را به کادری از فنآوران واگذار میکنیم که شماتیکها و فهرستهای قطعات را در نظر بگیرند و فرآیندهایی را توسعه دهند که مفاهیم طراحان را به واقعیت فیزیکی تبدیل کند. و در حالی که ترانزیستور سیلیکونی در حال کوچک شدن است، چالش های مهندسی بسته بندی تراشه های متعدد و اجزای مرتبط در زیرسیستم های متراکم فزاینده در حال افزایش است. علاوه بر این، ترانزیستور ممکن است مجبور باشد بدون خرابی در محیط های صنعتی یا نظامی شدید در طول عمر محصول کار کند.
Those of us who grew up in the "through-hole" age of electronic packaging are probably more amazed and appreciative than are our children at the incredible growth of electronic performance capability. My son, an electrical engineering student, seems almost to take for granted the innovations that leave me somewhat awestruck at times. Electronic circuit designers delight in packing more punch into less volume, while reminding us that their job has become increasingly challenging. The lay person also has learned from the media that the industry has been working wonders in shrinking the transistor and expanding the power of "the chip. " Much attention is focussed on the silicon and on the marvelous production and entertainment tools we now see in our offices and homes. Between the silicon and the end product lies the less publicized world of circuit-level packaging. We leave it to a cadre of technologists to take the schematics and parts lists and to develop the processes that tum the designers' concepts into physical reality. And while the silicon transistor is shrinking, the engineering challenges of packaging multiple chips and associated components into increasingly dense subsystems are growing. Further, the transistor may have to function without failure through severe industrial or military environments over the lifetime of the product.
Front Matter....Pages i-xx
Introduction....Pages 1-11
Electronics Packaging....Pages 12-50
Why Failures Occur....Pages 51-69
Failure Detection....Pages 70-95
Failure Analysis....Pages 96-135
Failure Modes and Mechanisms....Pages 136-282
Failure Models....Pages 283-309
Failure Prevention....Pages 310-326
Back Matter....Pages 327-370