Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques

تجزیه و تحلیل خرابی مدارهای مجتمع: ابزارها و تکنیک‌ها درک اساسی از نحوه استفاده از ابزارها و تکنیک‌های رایج در نیمه‌هادی‌های مبتنی بر سیلیکون برای درک علت اصلی خرابی‌های الکتریکی در مدارهای مجتمع ارائه می‌دهد. . اینها شامل کاربردهای خاص برای انجام تجزیه و تحلیل شکست مانند decapsulation، deprocessing، و جداسازی محل خرابی و همچنین ابزارها و تکنیک های تجزیه و تحلیل فیزیکی و شیمیایی است. پوشش کیفی است و درک کلی برای انتخاب ابزار هوشمند ارائه می دهد. همچنین شامل پوشش کاستی ها، محدودیت ها و نقاط قوت هر تکنیک است.
تحلیل شکست مدارهای مجتمع: ابزارها و تکنیک‌ها یک کار مرجع «باید» برای متخصصان و محققان نیمه‌رسانا است.

Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique.
Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.