مشخصات کتاب

Exploring Scanning Probe Microscopy with MATHEMATICA, Second Edition

ویرایش:  
نویسندگان: Prof. Dror Sarid(auth.)  
سری:  
ISBN (شابک) : 9783527406173, 9783527610068 
ناشر:  
سال نشر: 2007 
تعداد صفحات: 309 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 6 مگابایت 

در صورت تبدیل فایل کتاب Exploring Scanning Probe Microscopy with MATHEMATICA, Second Edition به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب کاوش میکروسکوپ پروب اسکن با MATHEMATICA، ویرایش دوم نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب کاوش میکروسکوپ پروب اسکن با MATHEMATICA، ویرایش دوم

این نسخه جدید و کاملاً به روز شده نه تنها دارای یک CD-ROM همراه است، بلکه یک بخش برنامه های کاربردی جدید نیز دارد که منعکس کننده پیشرفت های بسیاری در این زمینه در چند سال گذشته است. این مجموعه کاملی از مدل‌های محاسباتی را ارائه می‌کند که پدیده‌های فیزیکی مرتبط با میکروسکوپ تونل‌زنی روبشی، میکروسکوپ نیروی اتمی و فناوری‌های مرتبط را توصیف می‌کند.
نتیجه یک مرجع حرفه ای قوی و یک متن در سطح پیشرفته است که با اصول اولیه شروع می شود و به آخرین تکنیک ها، آزمایش ها و تئوری می رسد. در بخش اختصاص داده شده به میکروسکوپ نیروی اتمی، نویسنده خواص مکانیکی کنسول ها، برهمکنش های نمونه-نمونه میکروسکوپ اتمی و ویژگی های ارتعاش کنسول را توضیح می دهد. این با بررسی عمیق جنبه‌های نظری و عملی پدیده‌های تونل‌زنی، از جمله تونل‌زنی فلز-عایق-فلز و انتشار میدان فاولر-نوردهایم دنبال می‌شود. بخش پایانی دارای کاربردهایی است که از جمله با میکروسکوپ کاوشگر کلوین و رامان سروکار دارد.
ارائه مستقل از زمان ارزشمند پژوهشگران صرف جستجوی ادبیات فنی برای نتایج نظری مورد نیاز برای درک مدل های ارائه شده می کند. کد Mathematica برای همه مثال‌ها در CD-ROM گنجانده شده است، که آزادی تغییر مقادیر و پارامترهای مسائل خاص را به دلخواه می‌دهد یا حتی خود برنامه‌ها را مطابق با نیازهای مدل‌سازی مختلف تغییر می‌دهد. محتوا:
فصل 1 مقدمه (صفحات 22-26):
فصل 2 کنسول های یکنواخت (صفحات 27-47):
فصل 3 جداول تبدیل کنسول (صفحات 48-55):
فصل 4 V?Contilevers شکل (صفحات 56-77) ):
فصل 5 نکته–نمونه چسبندگی (صفحات 78–94):
فصل 6 نکته–نمونه منحنی نیروی (صفحات 95–109):
فصل 7 ارتعاشات رایگان (صفحات 110–121): < br>حالت بدون تماس فصل 8 (صفحات 122-132):
فصل 9 حالت ضربه زدن (صفحات 133-145):
فصل 10 تونل زنی فلز-عایق-فلز (صفحات 146-159):
فصل 11 تونل سازی فاولر-نوردهایم (صفحات 160-169):
فصل 12 طیف سنجی تونل زنی اسکن (صفحات 170-178):
فصل 13 محاصره کولن (صفحات 179-197):
فصل 14 ایالات (Density صفحه) 198-210):
فصل 15 الکترواستاتیک (صفحات 211-221):
فصل 16 Near?Field Optics (صفحات 222-241):
فصل 17 انقباض و مقاومت مرزی (صفحات 242-262):
فصل 18 میکروسکوپ رسانایی حرارتی اسکن (صفحات 26) 281):
فصل 19 میکروسکوپ نیروی پروب کلوین (صفحات 282-292):
فصل 20 پراکندگی رامان در نانوبلورها (صفحات 293-304):

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This new and completely updated edition features not only an accompanying CD-ROM, but also a new applications section, reflecting the many breakthroughs in the field over the last few years. It provides a complete set of computational models that describe the physical phenomena associated with scanning tunneling microscopy, atomic force microscopy, and related technologies.
The result is both a solid professional reference and an advanced-level text, beginning with the basics and moving on to the latest techniques, experiments, and theory. In the section devoted to atomic force microscopy, the author describes the mechanical properties of cantilevers, atomic force microscope tip-sample interactions, and cantilever vibration characteristics. This is followed by an in-depth treatment of theoretical and practical aspects of tunneling phenomena, including metal-insulator-metal tunneling and Fowler-Nordheim field emission. The final section features applications, dealing with, among others, Kelvin and Raman probe microscopy.
The self-contained presentation spares researchers valuable time spent hunting through the technical literature for the theoretical results required to understand the models presented. The Mathematica code for all the examples is included in the CD-ROM, affording the freedom to change the values and parameters of specific problems as desired, or even modify the programs themselves to suit various modeling needs.Content:
Chapter 1 Introduction (pages 22–26):
Chapter 2 Uniform Cantilevers (pages 27–47):
Chapter 3 Cantilever Conversion Tables (pages 48–55):
Chapter 4 V?Shaped Cantilevers (pages 56–77):
Chapter 5 Tip–Sample Adhesion (pages 78–94):
Chapter 6 Tip–Sample Force Curve (pages 95–109):
Chapter 7 Free Vibrations (pages 110–121):
Chapter 8 Noncontact Mode (pages 122–132):
Chapter 9 Tapping Mode (pages 133–145):
Chapter 10 Metal–Insulator–Metal Tunneling (pages 146–159):
Chapter 11 Fowler–Nordheim Tunneling (pages 160–169):
Chapter 12 Scanning Tunneling Spectroscopy (pages 170–178):
Chapter 13 Coulomb Blockade (pages 179–197):
Chapter 14 Density of States (pages 198–210):
Chapter 15 Electrostatics (pages 211–221):
Chapter 16 Near?Field Optics (pages 222–241):
Chapter 17 Constriction and Boundary Resistance (pages 242–262):
Chapter 18 Scanning Thermal Conductivity Microscopy (pages 263–281):
Chapter 19 Kelvin Probe Force Microscopy (pages 282–292):
Chapter 20 Raman Scattering in Nanocrystals (pages 293–304):

نظرات کاربران

کتاب های تصادفی

دانلود کتاب Potenzielle und realisierte Durchlässigkeit in gegliederten Bildungssystemen: Eine lokalstrukturelle Übertrittsanalyse in zwei Schulsystemen

دانلود کتاب Der Volkskrieg in Frankreich. Von der Einnahme Straßburgs bis zum Friedensschlusse

دانلود کتاب Arte y vocabulario en la lengua general del Perú (Quechua, 1586)

دانلود کتاب Total Workday Control Using Microsoft Outlook

دانلود کتاب The Black Musician and the White City: Race and Music in Chicago, 1900–1967