مشخصات کتاب

Experimental charge density : semiconductors, oxides and fluorides : electronic charge density structure in novel materials analyzed using single crystal and powder x-ray methods

ویرایش:  
نویسندگان: Ramachandran Saravanan  
سری:  
ISBN (شابک) : 9783838388168, 3838396669 
ناشر: LAP Lambert Academic Pub 
سال نشر: 2010 
تعداد صفحات: 298 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 19 مگابایت 

در صورت تبدیل فایل کتاب Experimental charge density : semiconductors, oxides and fluorides : electronic charge density structure in novel materials analyzed using single crystal and powder x-ray methods به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب چگالی بار تجربی: نیمه هادی ها ، اکسیدها و فلورایدها: ساختار چگالی بار الکترونیکی در مواد جدید با استفاده از روش های اشعه ایکس کریستالی و پودری تک نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب چگالی بار تجربی: نیمه هادی ها ، اکسیدها و فلورایدها: ساختار چگالی بار الکترونیکی در مواد جدید با استفاده از روش های اشعه ایکس کریستالی و پودری تک

درک تصویر الکترونیکی مواد مورد استفاده در صنعت الکترونیک برای استفاده موثر آنها در عمل بسیار مهم است. ابزارهای مختلفی برای این منظور استفاده می شود که یکی از آنها تکنیک پراش اشعه ایکس است. تکنیک پراش اشعه ایکس جزئیات محدود مواد را در قالب تصویر چگالی بار ارائه می دهد. تصویر چگالی بار را می توان از نظر کیفی و کمی برای نوع پیوند موجود در جامدات و همچنین برای اندازه گیری بارهای دخیل در تصمیم گیری خواص فیزیکی و شیمیایی سیستم انتخابی مورد تجزیه و تحلیل قرار داد. و از این رو، مطالعه بر روی چگالی بار با استفاده از اطلاعات آزمایشی پراش اشعه ایکس برای درک بهتر و کاربرد مواد اجتناب‌ناپذیر است. این رساله به طور مفصل به مطالعه توزیع چگالی بار روی برخی از جامدات یونی و فلورایدی و برخی مواد نیمه هادی مهم از نظر فن آوری می پردازد.

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

The understanding of the electronic picture of the materials used in electronics industry is an utmost important thing for their effective use in practice. Various tools are used for the purpose and one among them is the X-ray diffraction technique. X-ray diffraction technique provides the finite details of the materials in the form of charge density picture. Charge density picture can be analyzed qualitatively and quantitatively for the type of bonding existing in solids and also for the measure of the charges involved in deciding the physical and chemical properties of the chosen system. And hence, the study on charge density using experimental X-ray diffraction information is inevitable for the better understand and the utility of the material. This monograph elaborately deals with the charge density distribution study on some of the ionic and fluoride solids and some technologically important semiconductor materials.

نظرات کاربران

کتاب های تصادفی

دانلود کتاب Iliade di Omero adattata in prosa e per tutti

دانلود کتاب Clinical Sedation in Dentistry

دانلود کتاب Women Who Become Men: Albanian Sworn Virgins (Dress, Body, Culture Series)

دانلود کتاب Books That Teach Kids to Write

دانلود کتاب Progettazione Sismica Calcolo immediato della resistenza a taglio degli elementi con armature trasversali: il “Metodo dell’Armatura Equivalente”