دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: T. Hogg, G. Snider (auth.), Mohammad Tehranipoor (eds.) سری: Frontiers in Electronic Testing 37 ISBN (شابک) : 9780387747460, 9780387747477 ناشر: Springer US سال نشر: 2008 تعداد صفحات: 410 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 9 مگابایت
در صورت ایرانی بودن نویسنده امکان دانلود وجود ندارد و مبلغ عودت داده خواهد شد
کلمات کلیدی مربوط به کتاب فناوری های نانو در حال ظهور: آزمون ، تحمل نقص و قابلیت اطمینان: مدارها و سیستم ها، الکترونیک و میکروالکترونیک، ابزار دقیق، نانوتکنولوژی، کنترل کیفیت، قابلیت اطمینان، ایمنی و ریسک، مهندسی برق
در صورت تبدیل فایل کتاب Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب فناوری های نانو در حال ظهور: آزمون ، تحمل نقص و قابلیت اطمینان نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
تکنولوژیهای نوظهور نانو: تست، تحمل نقص و قابلیت اطمینان فناوریهای مختلفی را پوشش میدهد که در دهههای گذشته در حال توسعه هستند، مانند نانوتکنولوژی الکترونیکی مونتاژ شده شیمیایی، اتومات سلولی نقطه کوانتومی (QCA)، و نانوسیم ها و نانولوله های کربنی. هر یک از این فناوری ها مزایا و معایب مختلفی را ارائه می دهند. برخی از قدرت بالا رنج می برند، برخی در دمای بسیار پایین کار می کنند و برخی دیگر نیاز به مونتاژ نامشخص از پایین به بالا دارند. این فناوریهای نوظهور بهعنوان جایگزین مستقیم فناوری CMOS در نظر گرفته نمیشوند و ممکن است برای دستیابی به عملکرد خود به یک معماری کاملاً جدید نیاز داشته باشند.
تکنولوژیهای نوظهور نانو: تست، تحمل نقص و قابلیت اطمینان همه چیز را به ارمغان میآورد. از این موضوعات در یک مکان برای خوانندگان و محققانی که به این زمینه به سرعت در حال تغییر علاقه مند هستند.
Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes. Each of these technologies offers various advantages and disadvantages. Some suffer from high power, some work in very low temperatures and some others need indeterministic bottom-up assembly. These emerging technologies are not considered as a direct replacement for CMOS technology and may require a completely new architecture to achieve their functionality.
Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability brings all of these issues together in one place for readers and researchers who are interested in this rapidly changing field.
Front Matter....Pages IX-X
Front Matter....Pages 1-3
Defect-Tolerant Logic with Nanoscale Crossbar Circuits....Pages 5-32
Built-in Self-Test and Defect Tolerance in Molecular Electronics-Based Nanofabrics....Pages 33-61
Test and Defect Tolerance for Reconfigurable Nanoscale Devices....Pages 63-93
A Built-In Self-Test and Diagnosis Strategy for Chemically-Assembled Electronic Nanotechnology....Pages 95-120
Defect Tolerance in Crossbar Array Nano-Architectures....Pages 121-151
Front Matter....Pages 153-155
Reversible and Testable Circuits for Molecular QCA Design....Pages 157-202
Cellular Array-Based Delay-Insensitive Asynchronous Circuits Design and Test for Nanocomputing Systems....Pages 203-226
QCA Circuits for Robust Coplanar Crossing....Pages 227-249
Reliability and Defect Tolerance in Metallic Quantum-Dot Cellular Automata....Pages 251-263
Front Matter....Pages 265-265
Test Planning and Test Resource Optimization for Droplet-Based Microfluidic Systems....Pages 267-286
Testing and Diagnosis of Realistic Defects in Digital Microfluidic Biochips....Pages 287-312
Front Matter....Pages 313-314
Designing Nanoscale Logic Circuits Based on Principles of Markov Random Fields....Pages 315-338
Towards Nanoelectronics Processor Architectures....Pages 339-372
Design and Analysis of Fault-Tolerant Molecular Computing Systems....Pages 373-397
Back Matter....Pages 399-408