Embedded Processor-Based Self-Test

خودآزمایی مبتنی بر پردازنده تعبیه شده راهنمای استراتژی های خودآزمایی برای پردازنده های جاسازی شده است. امروزه پردازنده های جاسازی شده به طور مرتب در اکثر سیستم های روی تراشه (SoC) استفاده می شود. آزمایش ریزپردازنده‌ها و پردازنده‌های تعبیه‌شده همیشه یک چالش بوده است، زیرا اکثر تکنیک‌های تست سنتی زمانی که روی آن‌ها اعمال می‌شوند شکست می‌خورند. این به دلیل ساختار متوالی پیچیده معماری‌های پردازنده است که از واحدهای مسیر داده با کارایی بالا و منطق کنترل پیچیده برای بهینه‌سازی عملکرد تشکیل شده است. طراحی ساختار یافته برای آزمایش (DfT) و تکنیک های خودآزمایی مبتنی بر سخت افزار، که معمولاً تأثیری غیر ضروری بر عملکرد، اندازه و قدرت مدار دارند، نمی توانند بدون توجه جدی و ادغام دقیق در طراحی پردازنده اعمال شوند.

خودآزمایی مبتنی بر پردازشگر تعبیه شده نشان می دهد که چگونه می توان از عملکرد جاسازی شده قدرتمندی که پردازنده ها ارائه می دهند به عنوان یک منبع خودآزمایی استفاده کرد. این کتاب از طریق بحث در مورد استراتژی‌های مختلف بر حوزه نوظهور خودآزمایی مبتنی بر نرم‌افزار (SBST) تأکید می‌کند. SBST بر اساس ایده اجرای برنامه های نرم افزاری تعبیه شده برای انجام آزمایش خود پردازنده و بلوک های اطراف آن در SoC است. SBST یک استراتژی کم هزینه از نظر سربار (مساحت، سرعت، قدرت)، تلاش توسعه و هزینه برنامه آزمایشی است، زیرا با استفاده از تجهیزات تست کم هزینه و با سرعت کم استفاده می شود.

</ P>

خودآزمایی مبتنی بر پردازشگر تعبیه شده می تواند توسط طراحان، مهندسان DfT، متخصصان آزمون، محققان و دانشجویانی که روی تست دیجیتال، و به ویژه تست پردازنده و SoC کار می کنند، استفاده کنند. این کتاب چارچوبی را برای مقایسه بین روش‌های مختلف SBST با بحث در مورد الزامات کلیدی تنظیم می‌کند. این برنامه کاربردهای موفق SBST را در تعدادی از پردازنده های تعبیه شده با پیچیدگی ها و معماری مجموعه دستورالعمل های مختلف ارائه می دهد.

Embedded Processor-Based Self-Test is a guide to self-testing strategies for embedded processors. Embedded processors are regularly used today in most System-on-Chips (SoCs). Testing of microprocessors and embedded processors has always been a challenge because most traditional testing techniques fail when applied to them. This is due to the complex sequential structure of processor architectures, which consists of high performance datapath units and sophisticated control logic for performance optimization. Structured Design-for-Testability (DfT) and hardware-based self-testing techniques, which usually have a non-trivial impact on a circuit’s performance, size and power, can not be applied without serious consideration and careful incorporation into the processor design.

Embedded Processor-Based Self-Test shows how the powerful embedded functionality that processors offer can be utilized as a self-testing resource. Through a discussion of different strategies the book emphasizes on the emerging area of Software-Based Self-Testing (SBST). SBST is based on the idea of execution of embedded software programs to perform self-testing of the processor itself and its surrounding blocks in the SoC. SBST is a low-cost strategy in terms of overhead (area, speed, power), development effort and test application cost, as it is applied using low-cost, low-speed test equipment.

Embedded Processor-Based Self-Test can be used by designers, DfT engineers, test practitioners, researchers and students working on digital testing, and in particular processor and SoC test. This book sets the framework for comparisons among different SBST methodologies by discussing key requirements. It presents successful applications of SBST to a number of embedded processors of different complexities and instruction set architectures.