Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films

بیضی سنجی روش انتخابی برای تعیین خواص سطوح و لایه های نازک است. این خصوصیات جامع و حساس را در اندازه گیری های بدون تماس و غیر تهاجمی ارائه می دهد. این کتاب بررسی پیشرفته‌ای از بررسی‌های بیضی‌سنجی لایه‌ها و سطوح آلی، از آزمایشگاه تا کاربردهای سنکروترون، با تمرکز ویژه بر استفاده درجا در محیط‌های پردازش و در رابط‌های جامد-مایع ارائه می‌دهد. در ارتباط با توسعه مواد آلی کاربردی، متا و ترکیبی برای دستگاه‌های نوری، الکترونیکی، حسگر و بیوتکنولوژیکی جدید و پیشرفت‌های ساخت، تجزیه و تحلیل بیضی‌سنجی خواص نوری و مواد آنها به سرعت در سال‌های اخیر پیشرفت کرده است.

Ellipsometry is the method of choice to determine the properties of surfaces and thin films. It provides comprehensive and sensitive characterization in contactless and non-invasive measurements. This book gives a state-of-the-art survey of ellipsometric investigations of organic films and surfaces, from laboratory to synchrotron applications, with a special focus on in-situ use in processing environments and at solid-liquid interfaces. In conjunction with the development of functional organic, meta- and hybrid materials for new optical, electronic, sensing and biotechnological devices and fabrication advances, the ellipsometric analysis of their optical and material properties has progressed rapidly in the recent years.