Electrothermal Analysis of VLSI Systems

تحلیل الکتروترمال سیستم‌های VLSI به مشکلات الکتروترمال در سیستم‌های VLSI مدرن می‌پردازد.
بخش اول، بلوک‌های ساختمانی، پدیده‌های الکتروگرمایی و بلوک‌های ساختمانی اساسی را که شبیه‌سازی الکتروترمال به آن نیاز دارد (شامل تجزیه و تحلیل توان، مدل‌سازی دستگاه وابسته به دما، شبیه‌سازی حرارتی/الکتروترمال، و تنظیم-کالیبراسیون تجربی) مورد بحث قرار می‌دهد.
بخش دوم، برنامه‌ها، سه کاربرد مهم تجزیه و تحلیل الکتروترمال VLSI را مورد بحث قرار می‌دهد که شامل تشخیص مهاجرت الکتریکی وابسته به دما، قرارگیری حرارتی در سطح سلول و تجزیه و تحلیل قدرت و زمان‌بندی مبتنی بر دما است.
تحلیل الکتروترمال سیستم‌های VLSI برای محققان در زمینه‌های تجزیه و تحلیل قابلیت اطمینان IC و طراحی فیزیکی و همچنین طراحان VLSI و دانشجویان تحصیلات تکمیلی مفید خواهد بود.

Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems.
Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration).
Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis.
Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.