دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: Harald Ibach
سری: Springer Series in Optical Sciences volume 63
ISBN (شابک) : 0387528180, 9783540528180
ناشر: Springer
سال نشر: 1991
تعداد صفحات: 194
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 4 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Electron Energy Loss Spectrometers: The Technology of High Performance به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون: فناوری با کارایی بالا نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
طیفسنجی اتلاف انرژی الکترون به ابزاری ضروری در آنالیز سطح تبدیل شده است. اگرچه فیزیک اساسی این تکنیک به خوبی درک شده است، طراحی ابزار قبلاً تا حد زیادی به شهود واگذار شده است. این کتاب اولین کتابی است که درمان جامعی از اپتیک الکترونی درگیر در تولید پرتوهای تک رنگ شدید و تشخیص الکترون های پراکنده ارائه می دهد. این شامل یک تجزیه و تحلیل سه بعدی کامل از خواص نوری الکترون سیستم های انتشار الکترون، تک رنگ ها و سیستم های عدسی است که تاکید خاصی بر رویه های تطبیق اجزای مختلف دارد. توضیحات از نظر ریاضی ساده نگه داشته شده و بر جنبه های عملی تمرکز دارد، همراه با نکات زیادی برای نوشتن کدهای کامپیوتری برای محاسبه و بهینه سازی عناصر لنز الکترواستاتیک.
Electron energy loss spectroscopy has become an indispensable tool in surface analysis. Although the basic physics of this technique is well understood, instrument design has previously largely been left to intuition. This book is the first to provide a comprehensive treatment of the electron optics involved in the production of intense monochromatic beams and the detection of scattered electrons. It includes a full three-dimensional analysis of the electron optical properties of electron emission systems, monochromators and lens systems, placing particular emphasis on the procedures for matching the various components. The description is kept mathematically simple and focuses on practical aspects, with many hints for writing computer codes to calculate and optimize electrostatic lens elements.