Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy

ارائه دقیق فیزیک برهمکنش‌های پرتو الکترون-نمونه

میکروسکوپ الکترونی یکی از پرکاربردترین تکنیک‌های مشخص‌سازی در علم مواد، فیزیک، شیمی و علوم زیستی. این کتاب به بررسی برهمکنش بین پرتو الکترونی و نمونه می‌پردازد، که نقطه شروع اساسی برای همه میکروسکوپ‌های الکترونی است. توضیحات مفصلی برای کمک به تقویت درک ارائه شده است و موضوعات جدید در خط مقدم تحقیقات فعلی ارائه شده است. این به خوانندگان دانش عمیق تری از موضوع ارائه می دهد، به خصوص اگر قصد شبیه سازی برهمکنش پرتو الکترون-نمونه را به عنوان بخشی از پروژه های تحقیقاتی خود داشته باشند. این کتاب اکثریت قریب به اتفاق تکنیک های رایج میکروسکوپ الکترونی را پوشش می دهد. برخی از موضوعات پیشرفته تر (تصویربرداری میدان روشن حلقوی و اتم ناخالص، تجزیه و تحلیل شیمیایی با وضوح اتمی، اندازه گیری شکاف باند) ارزش بیشتری را به خصوص برای خوانندگانی که به ابزار دقیق پیشرفته مانند میکروسکوپ های تصحیح شده با انحراف و تک رنگ دسترسی دارند، ارائه می دهند.

برهمکنش های پرتو الکترون-نمونه و روش های شبیه سازی در میکروسکوپ پوشش روشنگرانه ای از موارد زیر ارائه می دهد: روش مونت کارلو. شبیه سازی چند تکه; امواج بلوخ در میکروسکوپ الکترونی انتقالی معمولی و تحلیلی. امواج بلوخ در میکروسکوپ الکترونی عبوری روبشی. اتلاف انرژی کم و از دست دادن هسته مارماهی. همچنین هر فصل را با نمودارهای واضح تکمیل می‌کند و ضمیمه‌هایی را در انتهای کتاب برای کمک به پیش‌نیازها ارائه می‌کند.

• ارائه‌ای دقیق از فیزیک برهم‌کنش‌های پرتو الکترون-نمونه
• هر فصل ابتدا فیزیک پس‌زمینه را قبل از حرکت به روش‌های شبیه‌سازی مورد بحث قرار می‌دهد
• از برنامه‌های رایانه‌ای برای شبیه‌سازی برهمکنش‌های پرتو الکترون-نمونه (ارائه شده در قالب مطالعات موردی) استفاده می‌کند
• شامل موضوعات داغ به دلیل پیشرفت در ابزار دقیق (به ویژه میکروسکوپ های تصحیح شده با انحراف و تک رنگ)

برهم کنش های پرتو الکترون-نمونه و روش های شبیه سازی در میکروسکوپ به نفع دانشجویان است. مدارک تحصیلات عالی، متخصصان میکروسکوپ الکترونی که مایل به کسب اطلاعات بیشتر در مورد موضوع خود هستند، و محققانی که مایلند درک عمیق تری از موضوع مورد نظر برای کار خود به دست آورند.

A detailed presentation of the physics of electron beam-specimen interactions

Electron microscopy is one of the most widely used characterisation techniques in materials science, physics, chemistry, and the life sciences. This book examines the interactions between the electron beam and the specimen, the fundamental starting point for all electron microscopy. Detailed explanations are provided to help reinforce understanding, and new topics at the forefront of current research are presented. It provides readers with a deeper knowledge of the subject, particularly if they intend to simulate electron beam-specimen interactions as part of their research projects. The book covers the vast majority of commonly used electron microscopy techniques. Some of the more advanced topics (annular bright field and dopant atom imaging, atomic resolution chemical analysis, band gap measurements) provide additional value, especially for readers who have access to advanced instrumentation, such as aberration-corrected and monochromated microscopes.

Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy offers enlightening coverage of: the Monte-Carlo Method; Multislice Simulations; Bloch Waves in Conventional and Analytical Transmission Electron Microscopy; Bloch Waves in Scanning Transmission Electron Microscopy; Low Energy Loss and Core Loss EELS. It also supplements each chapter with clear diagrams and provides appendices at the end of the book to assist with the pre-requisites.

• A detailed presentation of the physics of electron beam-specimen interactions
• Each chapter first discusses the background physics before moving onto simulation methods
• Uses computer programs to simulate electron beam-specimen interactions (presented in the form of case studies)
• Includes hot topics brought to light due to advances in instrumentation (particularly aberration-corrected and monochromated microscopes)

Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy benefits students undertaking higher education degrees, practicing electron microscopists who wish to learn more about their subject, and researchers who wish to obtain a deeper understanding of the subject matter for their own work.