دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 2 نویسندگان: Robert A. Schwarzer, David P. Field (auth.), Adam J. Schwartz, Mukul Kumar, Brent L. Adams, David P. Field (eds.) سری: ISBN (شابک) : 0387881352, 9780387881355 ناشر: Springer US سال نشر: 2009 تعداد صفحات: 406 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 21 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب پراش الکترونی برعکس در علوم مواد: علم مواد، عمومی، فیزیک مواد متراکم، ژئوفیزیک/ژئودزی، خصوصیات و ارزیابی مواد
در صورت تبدیل فایل کتاب Electron Backscatter Diffraction in Materials Science به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب پراش الکترونی برعکس در علوم مواد نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
پراش الکترونی پس پراکنده (EBSD)، هنگامی که به عنوان یک تکنیک مشخصه اضافی برای یک میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) استفاده میشود، جهتگیری دانهها، بافت محلی، همبستگیهای جهتگیری نقطه به نقطه، و شناسایی و توزیع فاز را امکانپذیر میکند. به طور معمول بر روی سطوح مواد پلی کریستالی حجیم تعیین شود. این نرم افزار در دهه گذشته به دلیل در دسترس بودن گسترده SEM ها، سهولت آماده سازی نمونه از انبوه، سرعت بالای جمع آوری داده ها، و دسترسی به اطلاعات تکمیلی در مورد ریزساختار در مقیاس زیر میکرون.
این ویرایش دوم کاملاً جدید، تکنیک کامل EBSD را، از تنظیمات آزمایشی، نمایش بافتها، و شبیهسازی دینامیکی، تا فیلتر انرژی، کروی و سه بعدی را توصیف میکند. EBSD، برای شناسایی فاز، آزمایشهای درجا، نقشهبرداری کرنش، و شبکههای مرزی دانه، تا طراحی و مدلسازی ریزساختارهای مواد. مثالهای کاربردی متعددی از جمله تجزیه و تحلیل ریزساختار تغییر شکل، تغییر شکل و آسیب دینامیکی، و مطالعات EBSD در علوم زمین جزئیات این تکنیک قدرتمند شناسایی مواد را ارائه میدهند.
Electron backscatter diffraction (EBSD), when employed as an additional characterization technique to a scanning electron microscope (SEM), enables individual grain orientations, local texture, point-to-point orientation correlations, and phase identification and distributions to be determined routinely on the surfaces of bulk polycrystalline materials. The application has experienced rapid acceptance in metallurgical, materials, and geophysical laboratories within the past decade due to the wide availability of SEMs, the ease of sample preparation from the bulk, the high speed of data acquisition, and the access to complimentary information about the microstructure on a submicron scale.
This entirely new second edition describes the complete EBSD technique, from the experimental set-up, representations of textures, and dynamical simulation, to energy-filtered, spherical, and 3-D EBSD, to phase identification, in situ experiments, strain mapping, and grain boundary networks, to the design and modeling of materials microstructures. Numerous application examples including the analysis of deformation microstructure, dynamic deformation and damage, and EBSD studies in the earth sciences provide details of this powerful materials characterization technique.
Front Matter....Pages i-xxii
Present State of Electron Backscatter Diffraction and Prospective Developments....Pages 1-20
Dynamical Simulation of Electron Backscatter Diffraction Patterns....Pages 21-33
Representations of Texture....Pages 35-51
Energy Filtering in EBSD....Pages 53-63
Spherical Kikuchi Maps and Other Rarities....Pages 65-80
Phase Identification Through Symmetry Determination in EBSD Patterns....Pages 97-107
Application of Electron Backscatter Diffraction to Phase Identification....Pages 81-95
Three-Dimensional Orientation Microscopy by Serial Sectioning and EBSD-Based Orientation Mapping in a FIB-SEM....Pages 109-122
Collection, Processing, and Analysis of Three-Dimensional EBSD Data Sets....Pages 123-137
3D Reconstruction of Digital Microstructures....Pages 139-153
Direct 3D Simulation of Plastic Flow from EBSD Data....Pages 155-167
First-Order Microstructure Sensitive Design Based on Volume Fractions and Elementary Bounds....Pages 169-175
Second-Order Microstructure Sensitive Design Using 2-Point Spatial Correlations....Pages 177-188
Combinatorial Materials Science and EBSD: A High Throughput Experimentation Tool....Pages 189-199
Grain Boundary Networks....Pages 201-214
Measurement of the Five-Parameter Grain Boundary Distribution from Planar Sections....Pages 215-229
Strain Mapping Using Electron Backscatter Diffraction....Pages 231-249
Mapping and Assessing Plastic Deformation Using EBSD....Pages 251-262
Analysis of Deformation Structures in FCC Materials Using EBSD and TEM Techniques....Pages 263-275
Application of EBSD Methods to Severe Plastic Deformation (SPD) and Related Processing Methods....Pages 277-289
Applications of EBSD to Microstructural Control in Friction Stir Welding/Processing....Pages 291-300
Characterization of Shear Localization and Shock Damage with EBSD....Pages 301-315
Texture Separation for α / β Titanium Alloys....Pages 317-327
A Review of In Situ EBSD Studies....Pages 329-337
Electron Backscatter Diffraction in Low Vacuum Conditions....Pages 339-344
EBSD in the Earth Sciences: Applications, Common Practice, and Challenges....Pages 345-360
Orientation Imaging Microscopy in Research on High Temperature Oxidation....Pages 361-393
Back Matter....Pages 395-403