دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Sorin Cristoloveanu. Sheng S. Li (auth.)
سری: The Springer International Series in Engineering and Computer Science 305
ISBN (شابک) : 9780792395485, 9781461522454
ناشر: Springer US
سال نشر: 1995
تعداد صفحات: 389
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 15 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب خصوصیات الکتریکی مواد و دستگاه های سیلیکون روی عایق: مهندسی برق، نوری و مواد الکترونیکی
در صورت تبدیل فایل کتاب Electrical Characterization of Silicon-on-Insulator Materials and Devices به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب خصوصیات الکتریکی مواد و دستگاه های سیلیکون روی عایق نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
سیلیکون روی عایق چیزی بیش از یک فناوری، بیش از یک شغل و بیش از یک سرمایه گذاری در میکروالکترونیک است. در فیزیک دستگاه چیزی متفاوت و با طراوت است. این کتاب فعالیت و اشتیاق گروه های SOL ما را به یاد می آورد. بسیاری از دانش آموزان مشارکت کننده از آن زمان از افق SOl ناپدید شده اند. برخی از آنها معتقد بودند که SOl عشق بزرگ زندگی علمی آنهاست. دیگران فقط SOl را به عنوان یک بازی لگو فوق العاده برای بزرگسالان در نظر گرفتند. ما از همه آنها تشکر می کنیم که با مهربانی به ما اجازه دادند تصور کنیم که ما آنها را راهنمایی می کنیم. این کتاب برای خیلی ها خیلی ضروری بود. مهندسان SO مطمئناً خوشحال خواهند شد: در واقع، اگر عملکرد اجزای SOL آنها همیشه برجسته نباشد، اکنون می توانند با خیال راحت روابط ارائه شده در کتاب را به جای فرآیند آنها متهم کنند. مارتین، گانتر و ی. اس چانگ میتوانند در نهایت به میزان کارشان با این ارقام فکر کنند. همدستان ما از قبل میدانند که چقدر از تخصص آنها وام گرفتهایم و فهرست کردن مشارکتهای دقیق آنها را ناپسند میدانند. ژان پیر و دیمیتریس کتاب را تحریک کردند، در حالی که تجربه خود را در مورد قابلیت اطمینان اجسام شناور به اشتراک گذاشتند. خانوادهها و دوستان ما اکنون متوجه قابلیت SOL شدهاند که ما را به مدت دو سال در یک BOX ایزوله میکند. بچه هایمان ما را تشویق کردند که شروع به نوشتن کنیم. همسرانمان قطعاً به ما جرأت دست کشیدن از نوشتن را دادند. آنها برای مبارزه با علائم آلرژی به SOl که به سرعت در حال رشد است، مشکل داشتند.
Silicon on Insulator is more than a technology, more than a job, and more than a venture in microelectronics; it is something different and refreshing in device physics. This book recalls the activity and enthu siasm of our SOl groups. Many contributing students have since then disappeared from the SOl horizon. Some of them believed that SOl was the great love of their scientific lives; others just considered SOl as a fantastic LEGO game for adults. We thank them all for kindly letting us imagine that we were guiding them. This book was very necessary to many people. SOl engineers will certainly be happy: indeed, if the performance of their SOl components is not always outstanding, they can now safely incriminate the relations given in the book rather than their process. Martine, Gunter, and Y. S. Chang can contemplate at last the amount of work they did with the figures. Our SOl accomplices already know how much we borrowed from their expertise and would find it indecent to have their detailed contri butions listed. Jean-Pierre and Dimitris incited the book, while sharing their experience in the reliability of floating bodies. Our families and friends now realize the SOl capability of dielectrically isolating us for about two years in a BOX. Our kids encouraged us to start writing. Our wives definitely gave us the courage to stop writing. They had a hard time fighting the symptoms of a rapidly developing SOl allergy.
Front Matter....Pages i-xv
Introduction....Pages 1-6
Methods of Forming SOI Wafers....Pages 7-44
SOI Devices....Pages 45-86
Wafer-Screening Techniques....Pages 87-117
Transport Measurements....Pages 119-143
SIS Capacitor-Based Characterization Techniques....Pages 145-184
Diode Measurements....Pages 185-207
MOS Transistor Characteristics....Pages 209-273
Transistor-Based Characterization Techniques....Pages 275-336
Monitoring Transistor Degradation....Pages 337-373
Back Matter....Pages 375-381