دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: David C. Look
سری: Designand Measurement in Electronic Engineering
ISBN (شابک) : 0471917028, 9780471917021
ناشر: Wiley
سال نشر: 1989
تعداد صفحات: 143
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 35 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب ویژگی های الکتریکی مواد و دستگاه های GaAs: طراحی، مدارها، برق و الکترونیک، مهندسی، مهندسی و حمل و نقل، نیمه هادی ها، الکترونیک، برق و الکترونیک، مهندسی، مهندسی و حمل و نقل، فیزیک، آکوستیک و صدا، کاربردی، اخترفیزیک، اخترفیزیک، علم پزشکی الکترومغناطیس، میکروسکوپ الکترونی، انرژی، مهندسی، آنتروپی، مکانیک گاز، ژئوفیزیک، گرانش، نور، فیزیک ریاضی، مکانیک، میکروسکوپ، فیزیک مولکولی، نانوساختارها، فیزیک هسته ای، اپتیک، کوانتوم
در صورت تبدیل فایل کتاب Electrical Characterization of GaAs Materials and Devices به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب ویژگی های الکتریکی مواد و دستگاه های GaAs نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
دادههای اندازهگیری الکتریکی را در مواد و دستگاههای GaAs خلاصه میکند و تکنیکهای مورد استفاده برای بهدست آوردن این دادهها و ایدههای پشت آنها را به تفصیل شرح میدهد. تاکید ویژه بر موضوعاتی است که گاهی در کارهای دیگر نادیده گرفته می شوند، مانند توابع فرمی ناخالصی و نقص، عوامل انحطاط و هدایت چند باندی، و همچنین به موضوعات نسبتاً جدیدی مانند استفاده از مقاومت مغناطیسی برای تعیین تحرک حامل در ساختارهای دستگاه. برخی از اطلاعات کاملاً عملی هستند، به عنوان مثال، نحوه ایجاد کنتاکت های اهمی یا محل خرید یک دستگاه تجاری و خودکار با جلوه هال. مشتقات دقیق زیادی را شامل می شود.
Summarizes electrical measurement data in GaAs materials and devices, and describes in detail the techniques used to obtain these data and the ideas behind them. Special emphasis is given to subjects sometimes ignored in other works such as impurity and defect Fermi functions, degeneracy factors and multiband conduction, and also to relatively new subjects such as the application of magnetoresistance to determine carrier mobility in device structures. Some of the information is quite practical, e.g., how to make ohmic contacts or where to buy a commercial, automated Hall-effect apparatus. Includes many detailed derivations.