دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
دانلود کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی الکتریکی برای نانوالکترونیک
مشخصات کتاب
Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
ویرایش: [1st ed. 2019]
نویسندگان: Umberto Celano
سری: NanoScience and Technology
ISBN (شابک) : 9783030156114, 9783030156121
ناشر: Springer International Publishing
سال نشر: 2019
تعداد صفحات: XX, 408
[424]
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 22 Mb
قیمت کتاب (تومان) : 37,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی الکتریکی برای نانوالکترونیک نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی الکتریکی برای نانوالکترونیک
تاثیر فوق العاده دستگاه های الکترونیکی بر زندگی ما نتیجه پیشرفت مداوم میلیاردها قطعه نانوالکترونیکی در مدارهای مجتمع (IC) است. با این حال، دستگاه های نیمه هادی فوق مقیاس به کنترل نانومتری بسیاری از پارامترهای ضروری برای ساخت آنها نیاز دارند. در طول سال‌ها، این اتحاد قوی بین تکنیک‌های میکروسکوپی و ساخت IC ایجاد کرد. این کتاب آخرین پیشرفت ها در دستگاه های آی سی را با تاکید بر تاثیر تکنیک های میکروسکوپ نیروی اتمی الکتریکی (AFM) برای توسعه آنها مرور می کند. اصول عملیات بسیاری از تکنیک ها معرفی شده و چالش های اندازه شناسی مرتبط شرح داده شده است. ترکیبی از تخصص متخصصان صنعتی و محققان دانشگاهی، فصل‌ها به روش‌های مختلف AFM و تأثیر آنها بر توسعه دستگاه‌های نانوالکترونیکی در حال ظهور اختصاص دارد. هدف، معرفی روش‌های اصلی AFM الکتریکی، به دنبال سفری است که با ظهور دستگاه‌های نانوالکترونیکی فراگیر، زندگی ما را تغییر داد و توانایی ما را برای حس کردن ماده در مقیاسی که قبلاً غیرقابل دسترس بود، گسترش داد.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). However, ultra-scaled semiconductor devices require nanometer control of the many parameters essential for their fabrication. Through the years, this created a strong alliance between microscopy techniques and IC manufacturing. This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development. The operation principles of many techniques are introduced, and the associated metrology challenges described. Blending the expertise of industrial specialists and academic researchers, the chapters are dedicated to various AFM methods and their impact on the development of emerging nanoelectronic devices. The goal is to introduce the major electrical AFM methods, following the journey that has seen our lives changed by the advent of ubiquitous nanoelectronics devices, and has extended our capability to sense matter on a scale previously inaccessible.
فهرست مطالب
Front Matter ....Pages i-xx
The Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics (Umberto Celano)....Pages 1-28
Conductive AFM for Nanoscale Analysis of High-k Dielectric Metal Oxides (Christian Rodenbücher, Marcin Wojtyniak, Kristof Szot)....Pages 29-70
Mapping Conductance and Carrier Distributions in Confined Three-Dimensional Transistor Structures (Andreas Schulze, Pierre Eyben, Jay Mody, Kristof Paredis, Lennaert Wouters, Umberto Celano et al.)....Pages 71-106
Scanning Capacitance Microscopy for Two-Dimensional Carrier Profiling of Semiconductor Devices (Jay Mody, Jochonia Nxumalo)....Pages 107-142
Oxidation and Thermal Scanning Probe Lithography for High-Resolution Nanopatterning and Nanodevices (Yu Kyoung Ryu, Armin Wolfgang Knoll)....Pages 143-172
Characterizing Ferroelectricity with an Atomic Force Microscopy: An All-Around Technique (Simon Martin, Brice Gautier, Nicolas Baboux, Alexei Gruverman, Adrian Carretero-Genevrier, Martí Gich et al.)....Pages 173-203
Electrical AFM for the Analysis of Resistive Switching (Stefano Brivio, Jacopo Frascaroli, Min Hwan Lee)....Pages 205-229
Magnetic Force Microscopy for Magnetic Recording and Devices (Atsufumi Hirohata, Marjan Samiepour, Marco Corbetta)....Pages 231-265
Space Charge at Nanoscale: Probing Injection and Dynamic Phenomena Under Dark/Light Configurations by Using KPFM and C-AFM (Christina Villeneuve-Faure, Kremena Makasheva, Laurent Boudou, Gilbert Teyssedre)....Pages 267-301
Conductive AFM of 2D Materials and Heterostructures for Nanoelectronics (Filippo Giannazzo, Giuseppe Greco, Fabrizio Roccaforte, Chandreswar Mahata, Mario Lanza)....Pages 303-350
Diamond Probes Technology (Thomas Hantschel, Thierry Conard, Jason Kilpatrick, Graham Cross)....Pages 351-384
Scanning Microwave Impedance Microscopy (sMIM) in Electronic and Quantum Materials (Kurt A. Rubin, Yongliang Yang, Oskar Amster, David A. Scrymgeour, Shashank Misra)....Pages 385-408
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب Os Pensadores - Investigações Lógicas - Textos Escolhidos
