Discrete Event Systems: Diagnosis and Diagnosability

سیستم‌های رویداد گسسته: تشخیص و تشخیص‌پذیری به مشکل تشخیص عیب سیستم‌های رویداد گسسته (DES) می‌پردازد. این کتاب تکنیک ها و رویکردهای اساسی لازم برای طراحی یک سیستم تشخیص عیب کارآمد برای طیف گسترده ای از کاربردهای مهندسی مدرن را ارائه می دهد. این کتاب تکنیک‌ها و رویکردهای مختلف را بر اساس معیارهای مختلفی دسته‌بندی می‌کند: ابزارهای مدل‌سازی (اتوماتا، شبکه‌های پتری، قالب‌ها) که برای ساخت مدل استفاده می‌شود. اطلاعاتی (کیفی بر اساس رویدادها و/یا خروجی‌های حالت، کمی بر اساس پردازش سیگنال، تجزیه و تحلیل داده‌ها) که برای تجزیه و تحلیل و دستیابی به تشخیص مورد نیاز است. ساختار تصمیم گیری (متمرکز، غیرمتمرکز) که برای دستیابی به تشخیص لازم است. و همچنین پیچیدگی (چند جمله ای، نمایی) الگوریتمی که برای تعیین مجموعه ای از خطاهایی که رویکرد پیشنهادی قادر به تشخیص آنها است و همچنین زمان تاخیر مورد نیاز برای این تشخیص استفاده می شود. هدف از این طبقه بندی انتخاب روش کارآمد برای دستیابی به تشخیص عیب با توجه به محدودیت های کاربردی است. این کتاب شامل مثال‌های مصور از روش‌ها و تکنیک‌های ارائه‌شده و همچنین بحثی در مورد کاربرد این روش‌ها در چندین مشکل دنیای واقعی است.

Discrete Event Systems: Diagnosis and Diagnosability addresses the problem of fault diagnosis of Discrete Event Systems (DESs). This book provides the basic techniques and approaches necessary for the design of an efficient fault diagnosis system for a wide range of modern engineering applications. This book classifies the different techniques and approaches according to several criteria such as: modeling tools (Automata, Petri nets, Templates) that is used to construct the model; the information (qualitative based on events occurrences and/or states outputs, quantitative based on signal processing, data analysis) that is needed to analyze and achieve the diagnosis; the decision structure (centralized, decentralized) that is required to achieve the diagnosis; as well as the complexity (polynomial, exponential) of the algorithm that is used to determine the set of faults that the proposed approach is able to diagnose as well as the delay time required for this diagnosis. The goal of this classification is to select the efficient method to achieve the fault diagnosis according to the application constraints. This book will include illustrated examples of the presented methods and techniques as well as a discussion on the application of these methods on several real-world problems.