دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: S Amelinckx (Eds.)
سری:
ISBN (شابک) : 9780444851291, 0444601864
ناشر: Elsevier Science
سال نشر: 1978
تعداد صفحات: 389
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 10 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Diffraction and Imaging Techniques in Material Science. Imaging and Diffraction Techniques به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تکنیک های پراش و تصویربرداری در علوم مواد. تکنیک های تصویربرداری و پراش نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
تکنیک های پراش و تصویربرداری در علم مواد P2
چکیده: تکنیک های پراش و تصویربرداری در علم مواد P2
Diffraction and Imaging Techniques in Material Science P2
Abstract: Diffraction and Imaging Techniques in Material
Science P2
Content:
Front Matter, Page iii
Copyright, Page iv
PREFACE TO THE FIRST EDITION, Page v, The Organizing Committee
PREFACE TO THE SECOND EDITION, Page vi
THE THEORY OF HIGH ENERGY ELECTRON DIFFRACTION, Pages 457-509, A. HOWIE
RECENT PROGRESS IN HIGH VOLTAGE ELECTRON MICROSCOPY, Pages 511-549, V.E. COSSLETT
SURFACE CHARACTERIZATION BY LOW ENERGY ELECTRON DIFFRACTION, Pages 553-589, Peder J. ESTRUP
ADVANCES IN X-RAY AND NEUTRON DIFFRACTION TECHNIQUES, Pages 593-621, A. GUINIER
TECHNIQUES AND INTERPRETATION IN X-RAY TOPOGRAPHY, Pages 623-714, A.R. LANG
CONTRAST OF IMAGES IN X-RAY TOPOGRAPHY, Pages 715-757, A. AUTHIER
MIRROR ELECTRON MICROSCOPY THEORY AND APPLICATIONS, Pages 761-788, A.B. BOK
SURFACE STUDIES BY FIELD EMISSION, Pages 791-810, Erwin W. MÜLLER
DEVELOPMENTS IN FIELD ION MICROSCOPY, Pages 811-847, Erwin W. MÜLLER
SUBJECT INDEX TO VOLUMES I AND II, Pages xi-xvii