دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: Raimund Ubar, Raimund Ubar, Jaan Raik, Heinrich Theodor Vierhaus سری: Premier Reference Source ISBN (شابک) : 1609602129, 9781609602147 ناشر: IGI Global سال نشر: 2010 تعداد صفحات: 579 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 24 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب طراحی و فناوری تست برای سیستمهای قابل اعتماد بر روی تراشه نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
طراحی سیستمهای تعبیهشده قابل اعتماد و قابل اعتماد اهمیت فزایندهای پیدا کرده است، زیرا شکست این سیستمها در کاربردهای خودرو، هوافضا یا هستهای میتواند عواقب جدی داشته باشد.
تکنولوژی طراحی و آزمایش برای سیستمهای قابل اعتماد- روی تراشهجنبههای طراحی سیستم و مدلسازی کارآمد را پوشش میدهد و همچنین مدلهای خطا و مکانیسمهای خطای مختلف مرتبط با مدارهای دیجیتال یکپارچهشده در سیستم روی تراشه (SoC)، سیستم روی تراشه چند پردازنده (MPSoC) یا شبکه را معرفی میکند. روی تراشه (NoC). این کتاب بینشی در مورد طراحی «کلاسیک» تصفیه شده و موضوعات آزمایشی و راهحلهای فناوری تست IC و سیستمهای تحملپذیر خطا ارائه میدهد.
Designing reliable and dependable embedded systems has become increasingly important as the failure of these systems in an automotive, aerospace or nuclear application can have serious consequences.
Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip covers aspects of system design and efficient modelling, and also introduces various fault models and fault mechanisms associated with digital circuits integrated into System on Chip (SoC), Multi-Processor System-on Chip (MPSoC) or Network on Chip (NoC). This book provides insight into refined ''classical'' design and test topics and solutions for IC test technology and fault-tolerant systems.