دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Defects and Impurities in Silicon Materials: An Introduction to Atomic-Level Silicon Engineering
دانلود کتاب عیوب و ناخالصی ها در مواد سیلیکونی: مقدمه ای بر مهندسی سیلیکون سطح اتمی
مشخصات کتاب
Defects and Impurities in Silicon Materials: An Introduction to Atomic-Level Silicon Engineering
ویرایش:
نویسندگان: Yutaka Yoshida. Guido Langouche (eds.)
سری: Lecture Notes in Physics 916
ISBN (شابک) : 9784431558002, 9784431557999
ناشر: Springer Japan
سال نشر: 2015
تعداد صفحات: 498
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 22 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 31,000
در صورت ایرانی بودن نویسنده امکان دانلود وجود ندارد و مبلغ عودت داده خواهد شد
کلمات کلیدی مربوط به کتاب عیوب و ناخالصی ها در مواد سیلیکونی: مقدمه ای بر مهندسی سیلیکون سطح اتمی: نیمه هادی ها، نانوتکنولوژی، مهندسی مواد، نانوتکنولوژی و مهندسی میکرو، فیزیک حالت جامد، علم و فناوری در مقیاس نانو
در صورت تبدیل فایل کتاب Defects and Impurities in Silicon Materials: An Introduction to Atomic-Level Silicon Engineering به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب عیوب و ناخالصی ها در مواد سیلیکونی: مقدمه ای بر مهندسی سیلیکون سطح اتمی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
فهرست مطالب
Front Matter....Pages i-xv
Diffusion and Point Defects in Silicon Materials....Pages 1-67
Density Functional Modeling of Defects and Impurities in Silicon Materials....Pages 69-127
Electrical and Optical Defect Evaluation Techniques for Electronic and Solar Grade Silicon....Pages 129-180
Control of Intrinsic Point Defects in Single-Crystal Si and Ge Growth from a Melt....Pages 181-240
Numerical Analysis of Impurities and Dislocations During Silicon Crystal Growth for Solar Cells....Pages 241-272
Oxygen Precipitation in Silicon....Pages 273-341
Defect Characterization in Silicon by Electron-Beam-Induced Current and Cathodoluminescence Techniques....Pages 343-373
Nuclear Methods to Study Defects and Impurities in Si Materials....Pages 375-429
Defect Engineering in Silicon Materials....Pages 431-487
