Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon

این کتاب رویکردهای اشکال زدایی خودکار اشکالات و خطاهایی را که در سطوح مختلف انتزاعی یک سیستم سخت افزاری ظاهر می شوند، توضیح می دهد. نویسندگان از یک رویکرد اشکال زدایی مبتنی بر تراکنش برای سیستم ها در سطح تراکنش استفاده می کنند و رابطه صحیح تراکنش ها را تایید می کنند. رویکرد اشکال زدایی خودکار برای اشکالات طراحی، نامزدهای خطای احتمالی را در RTL و سطح دروازه یک مدار پیدا می کند. تکنیک‌های اشکال‌زدایی برای باگ‌های منطقی و باگ‌های همگام‌سازی نشان داده شده‌اند و خوانندگان را قادر می‌سازد تا سخت‌ترین اشکال‌ها را بومی‌سازی کنند. اتوماسیون اشکال زدایی برای خطاهای الکتریکی (عیوب تاخیر) مسیرهای سرعت بالقوه خراب را در یک مدار در سطح دروازه پیدا می کند. روش‌های مختلف اشکال‌زدایی توصیف‌شده به دقت تشخیص بالایی دست می‌یابند و زمان اشکال‌زدایی را کاهش می‌دهند، چرخه توسعه IC را کوتاه می‌کنند و بهره‌وری طراحان را افزایش می‌دهند.

• یک چارچوب یکپارچه برای اتوماسیون اشکال‌زدایی را توصیف می‌کند که در هر دو قبل از سیلیکون استفاده می‌شود. و مراحل پس از سیلیکون؛
• رویکردهایی را برای اتوماسیون اشکال زدایی یک سیستم سخت افزاری در سطوح مختلف انتزاع، به عنوان مثال، تراشه، سطح دروازه، RTL و سطح تراکنش ارائه می دهد.
• شامل تکنیک هایی است. برای اتوماسیون اشکال زدایی اشکالات طراحی و خطاهای الکتریکی، و همچنین زیرساختی برای اشکال زدایی SoC های چند پردازنده ای مبتنی بر NoC.

This book describes automated debugging approaches for the bugs and the faults which appear in different abstraction levels of a hardware system. The authors employ a transaction-based debug approach to systems at the transaction-level, asserting the correct relation of transactions. The automated debug approach for design bugs finds the potential fault candidates at RTL and gate-level of a circuit. Debug techniques for logic bugs and synchronization bugs are demonstrated, enabling readers to localize the most difficult bugs. Debug automation for electrical faults (delay faults)finds the potentially failing speedpaths in a circuit at gate-level. The various debug approaches described achieve high diagnosis accuracy and reduce the debugging time, shortening the IC development cycle and increasing the productivity of designers.

• Describes a unified framework for debug automation used at both pre-silicon and post-silicon stages;
• Provides approaches for debug automation of a hardware system at different levels of abstraction, i.e., chip, gate-level, RTL and transaction level;
• Includes techniques for debug automation of design bugs and electrical faults, as well as an infrastructure to debug NoC-based multiprocessor SoCs.