ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب CTL for Test Information of Digital ICS

دانلود کتاب CTL برای اطلاعات تست ICS دیجیتال

CTL for Test Information of Digital ICS

مشخصات کتاب

CTL for Test Information of Digital ICS

ویرایش: 1 
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 1402072937, 9780306478260 
ناشر:  
سال نشر: 2002 
تعداد صفحات: 186 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 3 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 48,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 13


در صورت تبدیل فایل کتاب CTL for Test Information of Digital ICS به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب CTL برای اطلاعات تست ICS دیجیتال نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب CTL برای اطلاعات تست ICS دیجیتال

از بررسی‌ها: \"[…] یک افزودنی خوش‌آمد به ادبیات. [...] این کتاب وعده می‌دهد که کمک ارزشمندی به آموزش دانشجویان فارغ‌التحصیل در رشته‌های مهندسی برق و کامپیوتر و افزودنی بسیار مفید برای کتابخانه بزرگسالان کند. محقق در طرح‌های SoC یا زمینه‌های مرتبط.\" قابلیت اطمینان میکروالکترونیک


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

From the reviews: "[…] a welcome addition to the literature. […] This book promises to make a valuable contribution to the education of graduate students in electrical and computer engineering, and a very useful addition to the library of the maturer investigator in SoC designs or related fields." Microelectronics Reliability





نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی