ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Compendium of Surface and Interface Analysis

دانلود کتاب خلاصه ای از تجزیه و تحلیل سطح و رابط

 Compendium of Surface and Interface Analysis

مشخصات کتاب

Compendium of Surface and Interface Analysis

ویرایش: 1 
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 9789811061554, 9789811061561 
ناشر: Springer Singapore 
سال نشر: 2018 
تعداد صفحات: 805 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 36 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 54,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب خلاصه ای از تجزیه و تحلیل سطح و رابط: خصوصیات و ارزیابی مواد



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 3


در صورت تبدیل فایل کتاب Compendium of Surface and Interface Analysis به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب خلاصه ای از تجزیه و تحلیل سطح و رابط نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب خلاصه ای از تجزیه و تحلیل سطح و رابط



این کتاب به طور مختصر تکنیک‌های تجزیه و تحلیل سطح اصلی و کاربردهای آن‌ها را برای چند مثال کلیدی نشان می‌دهد.

سطوح نقش مهمی در فرآیندهای مختلف سطحی بازی می‌کنند و ساختارهای الکترونیکی/هندسی آنها بر فیزیکی حاکم است. /خواص شیمیایی. در چند دهه گذشته، تکنیک های مختلفی برای تحلیل سطح در ارتباط با پیشرفت در اپتیک، الکترونیک و پرتوهای کوانتومی توسعه یافته است. این کتاب منبع مفیدی را برای طیف وسیعی از دانشمندان و مهندسان از دانشجویان گرفته تا متخصصان در درک نکات اصلی هر تکنیک، مانند اصول، قابلیت‌ها و الزامات، در یک نگاه فراهم می‌کند. این یک دایره المعارف معاصر برای انتخاب روش مناسب بسته به هدف خواننده است.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book concisely illustrates the techniques of major surface analysis and their applications to a few key examples.

Surfaces play crucial roles in various interfacial processes, and their electronic/geometric structures rule the physical/chemical properties. In the last several decades, various techniques for surface analysis have been developed in conjunction with advances in optics, electronics, and quantum beams. This book provides a useful resource for a wide range of scientists and engineers from students to professionals in understanding the main points of each technique, such as principles, capabilities and requirements, at a glance. It is a contemporary encyclopedia for selecting the appropriate method depending on the reader's purpose.



فهرست مطالب

Front Matter ....Pages i-xvi
Acoustic Microscopy (Naohiro Hozumi)....Pages 1-8
Action Spectroscopy with STM (Kenta Motobayashi)....Pages 9-13
Ambient Pressure X-Ray Photoelectron Spectroscopy (Hiroshi Kondoh)....Pages 15-19
Angle-Resolved Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy (Takafumi Sato)....Pages 21-26
Atom Probe Field Ion Microscope (Masahiko Tomitori)....Pages 27-32
Atomic Force Microscope (Shintaro Fujii)....Pages 33-37
Auger Electron Spectroscopy (Fumihiko Matsui)....Pages 39-44
Cathodoluminescence (Takashi Sekiguchi)....Pages 45-49
Conductive Atomic Force Microscopy (Risa Fuji)....Pages 51-54
Differential Interference Contrast Microscopy/Phase-Contrast Microscopy (Hiroshi Komatsu, Gen Sazaki)....Pages 55-60
Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry (Mitsuhiro Tomita)....Pages 61-65
Elastic Recoil Detection Analysis (Daiichiro Sekiba)....Pages 67-72
Electrochemical Atomic Force Microscopy (Toru Utsunomiya, Yasuyuki Yokota, Ken-ichi Fukui)....Pages 73-78
Electrochemical Infrared Spectroscopy (Shen Ye)....Pages 79-85
Electrochemical Scanning Tunneling Microscopy (Tomoaki Nishino)....Pages 87-90
Electrochemical Second Harmonic Generation (Ichizo Yagi)....Pages 91-95
Electrochemical Sum Frequency Generation (Hidenori Noguchi)....Pages 97-101
Electrochemical Surface X-Ray Scattering (Toshihiro Kondo)....Pages 103-108
Electrochemical Transmission Electron Microscopy (Yoshifumi Oshima)....Pages 109-112
Electrochemical X-Ray Absorption Fine Structure (Takuya Masuda)....Pages 113-118
Electrochemical X-Ray Photoelectron Spectroscopy (Takuya Masuda)....Pages 119-125
Electron Backscatter Diffraction (Rika Yoda)....Pages 127-132
Electron Energy-Loss Spectroscopy (Tadaaki Nagao)....Pages 133-138
Electron Probe Microanalysis (Hiroshi Sakamae)....Pages 139-142
Electron-Stimulated Desorption (Naoya Miyauchi)....Pages 143-147
Electron-Beam-Induced Current (Jun Chen, Takashi Sekiguchi)....Pages 149-154
Ellipsometry (Toshihide Tsuru)....Pages 155-164
Environmental SEM (Atmospheric SEM) (Yusuke Ominami)....Pages 165-169
Environmental Transmission Electron Microscopy (Tadahiro Kawasaki)....Pages 171-175
Extended X-Ray Absorption Fine Structure (Hitoshi Abe)....Pages 177-180
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (Tetsuo Sakamoto)....Pages 181-186
Force Curve (Akinori Kogure)....Pages 187-191
Force Spectroscopy (Christina Puckert, Michael J. Higgins)....Pages 193-200
Frequency-Modulation Atomic Force Microscopy (Masayuki Abe)....Pages 201-204
Gap-Mode Raman Spectroscopy (Katsuyoshi Ikeda)....Pages 205-209
Glow Discharge Mass Spectrometry (Takashi Saka)....Pages 211-217
Glow Discharge Optical Emission Spectrometry (Patrick Chapon, Sofia Gaiaschi, Kenichi Shimizu)....Pages 219-228
Hard X-Ray Photoelectron Spectroscopy (Akira Sekiyama)....Pages 229-238
Helium Atom Scattering (Takahiro Kondo)....Pages 239-245
High-Resolution Elastic Recoil Detection Analysis (Kaoru Nakajima)....Pages 247-251
High-Resolution Electron Energy Loss Spectroscopy (Hiroshi Okuyama)....Pages 253-257
High-Resolution Rutherford Backscattering Spectrometry (Kaoru Nakajima)....Pages 259-262
High-Speed Atomic Force Microscopy (Takayuki Uchihashi)....Pages 263-267
Imaging Ellipsometry (Akiko N. Itakura)....Pages 269-274
Impact Collision Ion Scattering Spectroscopy (Masakazu Aono, Mitsuhiro Katayama)....Pages 275-282
Inelastic Electron Tunneling Spectroscopy (Akitoshi Shiotari)....Pages 283-288
Infrared External-Reflection Spectroscopy (Takeshi Hasegawa)....Pages 289-294
Infrared Reflection–Absorption Spectroscopy (Jun Yoshinobu)....Pages 295-299
Interferometer Displacement Measurement (Masaya Toda)....Pages 301-305
Inverse Photoemission Spectroscopy (Kaname Kanai)....Pages 307-312
Kelvin Probe Force Microscope (Risa Fuji)....Pages 313-317
Laser Ionization Secondary Neutral Mass Spectrometry (Tetsuo Sakamoto)....Pages 319-324
Laser Photoelectron Spectroscopy (Ryuichi Arafune)....Pages 325-329
Lateral Force Microscopy (Shiho Moriguchi)....Pages 331-335
Liquid SPM/AFM (Akinori Kogure)....Pages 337-341
Low-Energy Ion Scattering Spectroscopy (Kenji Umezawa)....Pages 343-348
Low-Energy Electron Diffraction (Yoshimi Horio)....Pages 349-353
Low-Energy Electron Microscope (H. Hibino)....Pages 355-360
Magnetic Force Microscopy (Masato Hirade)....Pages 361-364
Matrix-Assisted Laser Desorption/Ionization (Takaya Satoh)....Pages 365-369
Medium-Energy Ion Scattering (Tomoaki Nishimura)....Pages 371-374
Micro-Raman Spectroscopy (Katsumasa Fujita)....Pages 375-379
Microprobe Reflection High-Energy Electron Diffraction (Masakazu Ichikawa)....Pages 381-386
Multiple-Probe Scanning Probe Microscope (Tomonobu Nakayama)....Pages 387-394
Nanoscale Angle-Resolved Photoelectron Spectroscopy (Koji Horiba)....Pages 395-399
Nonlinear Spectroscopy (Shoichi Yamaguchi)....Pages 401-404
Nuclear Reaction Analysis (Markus Wilde, Katsuyuki Fukutani)....Pages 405-411
Optical Microscopy (Kazuya Kabayama, Ryugo Tero)....Pages 413-417
Optical Second-Harmonic Generation Spectroscopy and Microscopy (Khuat Thi Thu Hien, Goro Mizutani)....Pages 419-423
Particle-Induced X-Ray Emission (Koichiro Sera)....Pages 425-434
Penning Ionization Electron Spectroscopy (Takuya Hosokai)....Pages 435-440
Phase Mode SPM/AFM (Hideo Nakajima)....Pages 441-444
Photoelectron Diffraction (Fumihiko Matsui, Tomohiro Matsushita)....Pages 445-450
Photoelectron Holography (Tomohiro Matsushita, Fumihiko Matsui)....Pages 451-455
Photoelectron Yield Spectroscopy (Hisao Ishii)....Pages 457-463
Photoemission Electron Microscope (Toyohiko Kinoshita)....Pages 465-469
Photoluminescence (Yuhei Miyauchi)....Pages 471-476
Photon Emission from the Scanning Tunneling Microscope (Makoto Sakurai)....Pages 477-485
Photo-Stimulated Desorption (Akihiko Ikeda, Katsuyuki Fukutani)....Pages 487-492
Piezoresponse Force Microscope (Masato Hirade)....Pages 493-496
Positron-Annihilation-Induced Desorption Spectroscopy (Takayuki Tachibana, Yasuyuki Nagashima)....Pages 497-500
p-Polarized Multiple-angle Incidence Resolution Spectrometry (Takeshi Hasegawa)....Pages 501-507
Quartz Crystal Microbalance (Yuji Teramura, Madoka Takai)....Pages 509-520
Reflectance Difference Spectroscopy (Ken-ichi Shudo, Shin-ya Ohno)....Pages 521-526
Reflection High-Energy Electron Diffraction (Yoshimi Horio)....Pages 527-530
Resonant Inelastic X-Ray Scattering (Yoshihisa Harada)....Pages 531-537
Rutherford Backscattering Spectrometry (Daiichiro Sekiba)....Pages 539-543
Scanning Capacitance Microscopy (Nobuyuki Nakagiri)....Pages 545-549
Scanning Electrochemical Microscopy (Yasufumi Takahashi)....Pages 551-556
Scanning Electron Microscope Energy Dispersive X-Ray Spectrometry (Masaki Morita)....Pages 557-561
Scanning Electron Microscopy (Yasuyuki Okano)....Pages 563-569
Scanning Helium Ion Microscope (Keiko Onishi, Daisuke Fujita)....Pages 571-575
Scanning Near-Field Optical Microscopy/Near-Field Scanning Optical Microscopy (Tetsuya Narushima)....Pages 577-582
Scanning Probe Microscopy (Ken Nakajima)....Pages 583-586
Scanning Transmission Electron Microscopy (Koji Kimoto)....Pages 587-592
Scanning Transmission X-Ray Microscopy (Yasuo Takeichi)....Pages 593-597
Scanning Tunneling Microscopy (Yukio Hasegawa)....Pages 599-604
Scanning Tunneling Spectroscopy (Keisuke Sagisaka)....Pages 605-610
Soft X-Ray Absorption Fine Structure (Kenta Amemiya)....Pages 611-614
Spectroscopic Ellipsometry (Takumi Moriyama)....Pages 615-621
Spin- and Angle-Resolved Photoelectron Spectroscopy (Taichi Okuda)....Pages 623-629
Spin-Polarized Scanning Electron Microscopy (Teruo Kohashi)....Pages 631-635
Spin-Polarized Scanning Tunneling Microscopy (Toyo Kazu Yamada)....Pages 637-641
Spin-Resolved Photoemission Electron Microscopy (Keiki Fukumoto)....Pages 643-649
Super-Resolution Microscopy (Kazuya Kabayama, Ryugo Tero)....Pages 651-656
Surface Acoustic Wave (Shinya Sasaki)....Pages 657-660
Surface Enhanced Raman Scattering (Katsuyoshi Ikeda)....Pages 661-665
Surface Magneto-Optic Kerr Effect (Takeshi Nakagawa)....Pages 667-671
Surface Plasmon Resonance (Kaoru Tamada)....Pages 673-678
Surface Profilometer (Masahiro Tosa)....Pages 679-682
Surface Sensitive Scanning Electron Microscopy (Yoshikazu Homma)....Pages 683-687
Surface X-Ray Diffraction (Etsuo Arakawa)....Pages 689-696
Surface-Enhanced Infrared Absorption Spectroscopy (Masatoshi Osawa)....Pages 697-706
Synchrotron Radiation Photoelectron Spectroscopy (Jun Fujii)....Pages 707-712
Synchrotron Scanning Tunneling Microscope (Toyoaki Eguchi)....Pages 713-717
Thermal Desorption Spectroscopy (Shohei Ogura, Katsuyuki Fukutani)....Pages 719-724
Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (Satoka Aoyagi)....Pages 725-731
Time-Resolved Photoelectron Spectroscopy (Iwao Matsuda)....Pages 733-740
Time-Resolved Photoemission Electron Microscopy (Atsushi Kubo)....Pages 741-748
Time-Resolved Scanning Tunneling Microscopy (Hidemi Shigekawa)....Pages 749-753
Tip-Enhanced Raman Scattering (Norihiko Hayazawa)....Pages 755-761
Total Reflection X-Ray Fluorescence (Jun Kawai)....Pages 763-768
Transmission Electron Diffraction (Yoshio Matsui)....Pages 769-774
Transmission Electron Microscope (Masanori Mitome)....Pages 775-781
Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy (Kenichi Ozawa)....Pages 783-790
Ultraviolet–Visible Spectrophotometry (Hiro Amekura)....Pages 791-799
Vibrational Sum Frequency Generation Spectroscopy (Satoshi Nihonyanagi, Tahei Tahara)....Pages 801-807
X-Ray Absorption Near Edge Structure (Hitoshi Abe)....Pages 809-813
X-Ray-Aided Noncontact Atomic Force Microscopy (Shushi Suzuki, Wang-Jae Chun, Masaharu Nomura, Kiyotaka Asakura)....Pages 815-819
X-Ray Crystal Truncation Rod Scattering (Tetsuroh Shirasawa)....Pages 821-825
X-Ray Magnetic Circular Dichroism (Kenta Amemiya)....Pages 827-831
X-Ray Photoelectron Spectroscopy (Makoto Nakamura)....Pages 833-842
X-Ray Reflectivity (Wolfgang Voegeli)....Pages 843-848
X-Ray Standing Wave Method (Akira Saito)....Pages 849-853




نظرات کاربران