دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Daniel Chateigner
سری: ISTE
ISBN (شابک) : 1848211988, 9781848211988
ناشر: Wiley-ISTE
سال نشر: 2010
تعداد صفحات: 517
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 11 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Combined Analysis به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل ترکیبی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب جنبههای کلیدی تجزیه و تحلیل ترکیبی - یک روش پراکندگی
اشعه ایکس و/یا نوترون که ساختاری، بافتی، تنش، ریزساختاری، فاز،
لایه، یا سایر متغیرهای مرتبط یا تجزیه و تحلیلهای ویژگی را در
یک رویکرد واحد ترکیب میکند، معرفی و جزئیات میدهد. متن با
تئوری های اساسی مربوط به پراش توسط پلی کریستال ها شروع می شود و
برخی از رایج ترین مجموعه های ابزار تجزیه و تحلیل ترکیبی به
تفصیل شرح داده شده است. همچنین ریزساختارهای پروفیل های پراش
پودر مورد بحث قرار گرفته است. تجزیه و تحلیل فاز کمی از تجزیه و
تحلیل Rietveld. تجزیه و تحلیل تنش پسماند برای مواد همسانگرد و
ناهمسانگرد. بازتاب پرتو ایکس دوربینی و مدلهای مختلف
مرتبط.
This book introduces and details the key facets of Combined
Analysis - an x-ray and/or neutron scattering methodology which
combines structural, textural, stress, microstructural, phase,
layer, or other relevant variable or property analyses in a
single approach. The text starts with basic theories related to
diffraction by polycrystals and some of the most common
combined analysis instrumental set-ups are detailed. Also
discussed are microstructures of powder diffraction profiles;
quantitative phase analysis from the Rietveld analysis;
residual stress analysis for isotropic and anisotropic
materials; specular x-ray reflectivity, and the various
associated models.