CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective

تست و ارزیابی CMOS: یک چشم انداز فیزیکی یک منبع واحد برای یک دیدگاه یکپارچه از روش تجزیه و تحلیل تست و داده برای محصولات CMOS است که حساسیت مدار به ویژگی های MOSFET، تاثیر تنوع فرآیند فناوری سیلیکون، کاربردهای ساختارها و حسگرهای تست تعبیه شده را پوشش می دهد. ، بازده محصول و قابلیت اطمینان در طول عمر محصول. این کتاب همچنین تکنیک های تجزیه و تحلیل داده های آماری و تجسم، تجهیزات تست و مشخصات محصول CMOS را پوشش می دهد و رفتار محصول را در محدوده ولتاژ، دما و فرکانس کامل آن بررسی می کند.

CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective is a single source for an integrated view of test and data analysis methodology for CMOS products, covering circuit sensitivities to MOSFET characteristics, impact of silicon technology process variability, applications of embedded test structures and sensors, product yield, and reliability over the lifetime of the product. This book also covers statistical data analysis and visualization techniques, test equipment and CMOS product specifications, and examines product behavior over its full voltage, temperature and frequency range.