CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability

موضوع این کتاب طراحی مدار RF CMOS برای قابلیت اطمینان است. مسائل مربوط به قابلیت اطمینان دستگاه و تغییرات فرآیند در مدارهای فرستنده و گیرنده RF مورد توجه خوانندگان در زمینه دستگاه ها و مدارهای نیمه هادی خواهد بود. این کتاب پیشنهادی برای بررسی مسائل مربوط به قابلیت اطمینان معمولی در سطح دستگاه و فناوری و سپس بررسی تأثیر آنها بر عملکرد مدار فرستنده گیرنده بی سیم RF منحصر به فرد است. معادلات تحلیلی، داده های تجربی، نتایج شبیه سازی دستگاه و مدار برای توضیح واضح ارائه خواهد شد. فایده اصلی که خواننده از این کتاب به دست می‌آورد، درک روشنی از نحوه تأثیرگذاری مسائل قابلیت اطمینان دستگاه بر عملکرد مدار RF در معرض پیری عملیات و تغییرات فرآیند است.

The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and circuits. This proposed book is unique to explore typical reliability issues in the device and technology level and then to examine their impact on RF wireless transceiver circuit performance. Analytical equations, experimental data, device and circuit simulation results will be given for clear explanation. The main benefit the reader derive from this book will be clear understanding on how device reliability issues affects the RF circuit performance subjected to operation aging and process variations.