CMOS Electronics: How It Works, How It Fails

دسته بندی: الکترونیک
ویرایش:  
نویسندگان: Segura J.,  Hawkins Ch.F.  
سری:  
 
ناشر:  
سال نشر:  
تعداد صفحات: 269 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 3 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 45,000

Wiley + IEEE Press، 2004، 348 صفحه، ISBN: 04714766920 محیط های تولید CMOS با علائمی احاطه شده است که می تواند نشان دهنده مشکلات جدی تست، طراحی یا قابلیت اطمینان باشد، که: به نوبه خود، می تواند بر درآمد مالی و همچنین مهندسی تأثیر بگذارد. این کتاب به خوانندگان، از جمله غیر مهندسین درگیر در ساخت CMOS، آموزش می دهد تا این علل را شناسایی و اصلاح کنند. این کتاب دانش الکترونیکی را القا می کند که نه تنها بر طراحی، بلکه بر سایر زمینه های مهم تولید مانند آزمون، قابلیت اطمینان، تجزیه و تحلیل شکست، مسائل کیفیت بازده و مشکلات تأثیر می گذارد. به طور خاص برای بسیاری از مهندسان غیر الکترونیکی شاغل در صنعت نیمه هادی ها که نیاز به تولید قابل اعتماد تراشه ها با نرخ بالا در مقادیر زیاد دارند، طراحی شده است، این یک راهنمای عملی برای نحوه کار الکترونیک CMOS، چگونگی وقوع خرابی ها، و نحوه تشخیص و اجتناب از آنها است. . ویژگی‌های کلیدی:
درکی از الکترونیک اولیه مدارهای مجتمع CMOS ایجاد می‌کند و سپس خواننده را بیشتر به درک مکانیسم‌های خرابی هدایت می‌کند.
توضیحات منحصربه‌فرد مکانیزم‌های خرابی مدار، برخی قبلاً فقط در مقالات تحقیقاتی یافت می‌شدند و برخی دیگر در این انتشارات جدید بودند.
صنعت CMOS (یا دانشجویانی که به آنجا می‌روند) هدف‌گذاری شده‌اند و نه مقدمه‌ای عمومی برای حوزه وسیع‌تر الکترونیک.
مثال‌ها، تمرین‌ها و مسئله s برای پشتیبانی از خودآموزی خواننده ارائه شده است. CMOS Fundamentals
Electrical Circuit Analysis
Semiconductor فیزیک
ترانزیستورهای ماسفت
گیت های پایه CMOS
مدارهای پایه CMOS حالت های خرابی، نقص، و تست IC های CMOS
مکانیسم‌های خرابی در مواد CMOS IC
عیب‌های پل‌سازی
عیب‌های باز
شکست‌های پارامتریک
تست مبتنی بر نقص

Wiley + IEEE Press, 2004, 348 pages, ISBN: 04714766920 CMOS manufacturing environments are surrounded with symptoms that can indicate serious test, design, or reliability problems, which, in turn, can affect the financial as well as the engineering bottom line. This book educates readers, including non-engineers involved in CMOS manufacture, to identify and remedy these causes. This book instills the electronic knowledge that affects not just design but other important areas of manufacturing such as test, reliability, failure analysis, yield-quality issues, and problems. Designed specifically for the many non-electronic engineers employed in the semiconductor industry who need to reliably manufacture chips at a high rate in large quantities, this is a practical guide to how CMOS electronics work, how failures occur, and how to diagnose and avoid them. Key features:
Builds a grasp of the basic electronics of CMOS integrated circuits and then leads the reader further to understand the mechanisms of failure.
Unique descriptions of circuit failure mechanisms, some found previously only in research papers and others new to this publication.
Targeted to the CMOS industry (or students headed there) and not a generic introduction to the broader field of electronics.
Examples, exercises, and problems are provided to support the self-instruction of the reader. CMOS Fundamentals
Electrical Circuit Analysis
Semiconductor Physics
MOSFET Transistors
CMOS Basic Gates
CMOS Basic Circuits Failure Modes, Defects, and Testing of CMOS ICs
Failure Mechanisms in CMOS IC Materials
Bridging Defects
Open Defects
Parametric Failures
Defect-Based Testing