ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Chemical, Structural and Electronic Analysis of Heterogeneous Surfaces on Nanometer Scale

دانلود کتاب تجزیه و تحلیل شیمیایی، ساختاری و الکترونیکی سطوح ناهمگن در مقیاس نانومتری

Chemical, Structural and Electronic Analysis of Heterogeneous Surfaces on Nanometer Scale

مشخصات کتاب

Chemical, Structural and Electronic Analysis of Heterogeneous Surfaces on Nanometer Scale

ویرایش: 1 
نویسندگان: , , ,   
سری: NATO ASI Series 333 
ISBN (شابک) : 9789401064149, 9789401157247 
ناشر: Springer Netherlands 
سال نشر: 1997 
تعداد صفحات: 137 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 8 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 48,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب تجزیه و تحلیل شیمیایی، ساختاری و الکترونیکی سطوح ناهمگن در مقیاس نانومتری: است



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 8


در صورت تبدیل فایل کتاب Chemical, Structural and Electronic Analysis of Heterogeneous Surfaces on Nanometer Scale به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل شیمیایی، ساختاری و الکترونیکی سطوح ناهمگن در مقیاس نانومتری نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب تجزیه و تحلیل شیمیایی، ساختاری و الکترونیکی سطوح ناهمگن در مقیاس نانومتری



ارزیابی دستاوردهای اخیر و نقاط قوت نسبی دو تکنیک در حال توسعه برای مشخص کردن سطوح در مقیاس نانومتری: (i) روش‌های کاوشگر محلی، از جمله میکروسکوپ تونل زنی روبشی و مشتقات آن. و (ب) گسیل نوری و طیف‌سنجی جذبی در مقیاس نانو برای تجزیه و تحلیل شیمیایی.
سخنرانی های اصلی توسط برخی از بهترین دانشمندان جهان در این زمینه ارائه شد و برخی از موضوعات تحت پوشش عبارتند از: (1) کاربرد احتمالی STM در تجزیه و تحلیل شیمیایی اتمی. (2) اصول اسکن نیروی/اصطکاک و اسکن میکروسکوپ های نوری میدان نزدیک. (3) میکروسکوپ های الکترونی گسیل نور روبشی ساخته شده در ELETTRA و SRRC، با شرح میکروسکوپ تشعشع سنکروترون. (4) پیشرفت اخیر در توسعه میکروسکوپ فوتوالکترونی با تفکیک مکانی، به ویژه استفاده از اپتیک فوتون صفحه منطقه. (5) وضعیت فعلی میکروسکوپ گسیل نور غیر روبشی با الکترون های کند. (6) پروژه BESSY 2 برای یک میکروسکوپ فوتوالکترون غیر روبشی با اپتیک الکترونی. (7) مطالعات واکنش درجا با تفکیک فضایی امواج شیمیایی و پدیده‌های نوسانی با میکروسکوپ انتشار نور UV.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

An assessment of the recent achievements and relative strengths of two developing techniques for characterising surfaces at the nanometer scale: (i) local probe methods, including scanning tunnelling microscopy and its derivatives; and (ii) nanoscale photoemission and absorption spectroscopy for chemical analysis.
The keynote lectures were delivered by some of the world's best scientists in the field and some of the topics covered include: (1) The possible application of STM in atomically resolved chemical analysis. (2) The principles of scanning force/friction and scanning near-field optical microscopes. (3) The scanning photoemission electron microscopes built at ELETTRA and SRRC, with a description of synchrotron radiation microscopy. (4) Recent progress in the development of spatially-resolved photoelectron microscopy, especially the use of zone plate photon optics. (5) The present status of non-scanning photoemission microscopy with slow electrons. (6) the BESSY 2 project for a non-scanning photoelectron microscope with electron optics. (7) Spatially-resolved in situ reaction studies of chemical waves and oscillatory phenomena with the UV photoemission microscope.



فهرست مطالب

Front Matter....Pages i-x
Surface State Electrons: Transport Through Dangling Bonds on Silicon, and Scattering and Confinement on Metals....Pages 1-23
SFFM and SNOM of Heterogeneous Materials....Pages 25-41
Synchrotron Radiation Spectromicroscopy: Opportunities, Limitations and Data Taking Strategies....Pages 43-52
Scanning Spectro-Microscopy with 250 to 800 eV X-Rays....Pages 53-74
Recent Advances in LEEM/PEEM for Structural and Chemical Analysis....Pages 75-91
Some Spectromicroscopy Developments at Bessy....Pages 93-102
Shedding Light on Surface Reactions....Pages 103-129
Back Matter....Pages 131-132




نظرات کاربران