دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Characterization of Semiconductor Materials - Principles and Methods, Volume 1
دانلود کتاب خصوصیات مواد نیمه هادی - اصول و روش ها، جلد 1
مشخصات کتاب
Characterization of Semiconductor Materials - Principles and Methods, Volume 1
ویرایش:
نویسندگان: McGuire. G.E.(eds.)
سری:
ISBN (شابک) : 9780815516347, 9780815512004
ناشر: William Andrew Publishing/Noyes
سال نشر: 1989
تعداد صفحات: 240
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 11 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 44,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Characterization of Semiconductor Materials - Principles and Methods, Volume 1 به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب خصوصیات مواد نیمه هادی - اصول و روش ها، جلد 1 نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب خصوصیات مواد نیمه هادی - اصول و روش ها، جلد 1
خصوصیات مواد نیمه هادی و روش های مورد استفاده برای مشخص کردن آنها در این سری جدید Noyes به طور گسترده توضیح داده خواهد شد. این مجموعه که توسط کارشناسان در هر زمینه موضوعی نوشته شده است، به روزترین اطلاعات موجود در این زمینه به سرعت در حال پیشرفت را ارائه می دهد. شامل فصل هایی در مورد مشخصه های الکتریکی، طیف سنجی جرمی یون، طیف سنجی فوتوالکترون، برهمکنش های یون/جامد و موارد دیگر است.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Characterization of semiconductor materials and methods used to characterize them will be described extensively in this new Noyes series. Written by experts in each subject area, the series will present the most up-to-date information available in this rapidly advancing field. Includes chapters on Electrical Characterization, Ion Mass Spectrometry, Photoelectron Spectroscopy, Ion/Solid Interactions and more.
فهرست مطالب
Content:
Front Matter
• Preface
• Table of Contents
1. Electrical Characterization of Semiconductor Materials and Devices
2. Secondary Ion Mass Spectrometry
3. Photoelectron Spectroscopy: Applications to Semiconductors
4. Ion/Solid Interactions in Surface Analysis
5. Molecular Characterization of Dielectric Films by Laser Raman Spectroscopy
6. Characterization of Semiconductor Surfaces by Appearance Potential Spectroscopy
Index
