دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods
دانلود کتاب شناسایی عیوب رشد کریستال با روش های اشعه ایکس
مشخصات کتاب
Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods
ویرایش: [1 ed.] نویسندگان: Eugene S. Meieran (auth.), Dr. Brian K. Tanner, Dr. D. Keith Bowen (eds.) سری: Nato Advanced Study Institutes Series 63 ISBN (شابک) : 9781475711288, 9781475711264 ناشر: Springer US سال نشر: 1980 تعداد صفحات: 589 [614] زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 18 Mb
قیمت کتاب (تومان) : 37,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب شناسایی عیوب رشد کریستال با روش های اشعه ایکس نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب BlackBerry For Dummies
دانلود کتاب Creative Fashion Drawing: A Complete Guide to Design, Styles and Illustration
دانلود کتاب ‚Warum tun die das?’: Governanceanalysen zum Steuerungshandeln in der Schulentwicklung
دانلود کتاب UNIX Network Programming: The Sockets Networking API
