دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: S. C. Minne, S. R. Manalis, C. F. Quate (auth.) سری: Microsystems 3 ISBN (شابک) : 9781461373537, 9781461551676 ناشر: Springer US سال نشر: 1999 تعداد صفحات: 168 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 7 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب افزایش سرعت میکروسکوپ پروب اسکن: مواد نوری و الکترونیکی، سطوح و رابط ها، لایه های نازک، مهندسی برق، خصوصیات و ارزیابی مواد
در صورت تبدیل فایل کتاب Bringing Scanning Probe Microscopy up to Speed به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب افزایش سرعت میکروسکوپ پروب اسکن نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
افزایش سرعت میکروسکوپ پروب اسکن اصول سیستم های
کاوشگر اسکن را با تاکید ویژه بر تکنیک های افزایش سرعت معرفی
می کند. نویسندگان اطلاعات مفیدی در مورد ویژگیها و
محدودیتهای ماشینهای پیشرفته فعلی و همچنین ویژگیهای
سیستمهایی که در آینده دنبال خواهند شد، ارائه میکنند. رویکرد
اساسی دوگانه است. اول، سیستمهای اسکن سریع برای پروبهای
منفرد درمان میشوند و دوم، سیستمهایی با چندین پروب که بهطور
موازی کار میکنند ارائه میشوند.
اجزای کلیدی SPM عبارتند از ریزکنتیلور مکانیکی با نوک یکپارچه
و سیستمهایی که برای اندازهگیری انحراف آن استفاده میشوند.
در اصل، کل دستگاه به حرکت دادن نوک روی یک سطح با نیرویی به
خوبی کنترل شده اختصاص داده شده است. پاسخ مکانیکی محرک که بر
نیرو حاکم است از اهمیت بالایی برخوردار است زیرا سرعت اسکن را
تعیین می کند. پاسخ مکانیکی مستقیماً به اندازه محرک مربوط می
شود. کوچکتر سریعتر است میکروسکوپهای کاوشگر روبشی سنتی برای
حرکت دادن پروب به لولههای پیزوالکتریک با اندازه سانتیمتر
متکی هستند. در سیستمهای کاوشگر اسکن آینده، محرکهای بزرگ با
کنسولهایی جایگزین میشوند که در آن محرکها روی پرتو یکپارچه
میشوند. اینها در آرایههایی از چندین کنسول با MEMS به عنوان
فناوری کلیدی برای فرآیند ساخت ترکیب میشوند.
Bringing Scanning Probe Microscopy Up to Speed
introduces the principles of scanning probe systems with
particular emphasis on techniques for increasing speed. The
authors include useful information on the characteristics and
limitations of current state-of-the-art machines as well as
the properties of the systems that will follow in the future.
The basic approach is two-fold. First, fast scanning systems
for single probes are treated and, second, systems with
multiple probes operating in parallel are presented.
The key components of the SPM are the mechanical
microcantilever with integrated tip and the systems used to
measure its deflection. In essence, the entire apparatus is
devoted to moving the tip over a surface with a
well-controlled force. The mechanical response of the
actuator that governs the force is of the utmost importance
since it determines the scanning speed. The mechanical
response relates directly to the size of the actuator;
smaller is faster. Traditional scanning probe microscopes
rely on piezoelectric tubes of centimeter size to move the
probe. In future scanning probe systems, the large actuators
will be replaced with cantilevers where the actuators are
integrated on the beam. These will be combined in arrays of
multiple cantilevers with MEMS as the key technology for the
fabrication process.
Front Matter....Pages i-xiii
Improving Conventional Scanning Probe Microscopes....Pages 15-22
Design of Piezoresistive Cantilevers with Integrated Actuators....Pages 23-48
Increasing the Speed of Imaging....Pages 49-80
Cantilevers with Interdigital Deflection Sensors....Pages 81-98
Operation of the Interdigital Cantilever....Pages 99-118
Cantilever Arrays....Pages 119-130
Scanning Probes for Information Storage and Retrieval....Pages 131-140
Silicon Process Flow: ZnO actuator and piezoresistive sensor....Pages 141-157
Silicon Process Flow: Interdigital Cantilever....Pages 159-167
Back Matter....Pages 169-173