ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Bringing Scanning Probe Microscopy up to Speed

دانلود کتاب افزایش سرعت میکروسکوپ پروب اسکن

Bringing Scanning Probe Microscopy up to Speed

مشخصات کتاب

Bringing Scanning Probe Microscopy up to Speed

ویرایش: 1 
نویسندگان: , ,   
سری: Microsystems 3 
ISBN (شابک) : 9781461373537, 9781461551676 
ناشر: Springer US 
سال نشر: 1999 
تعداد صفحات: 168 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 7 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 45,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب افزایش سرعت میکروسکوپ پروب اسکن: مواد نوری و الکترونیکی، سطوح و رابط ها، لایه های نازک، مهندسی برق، خصوصیات و ارزیابی مواد



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 9


در صورت تبدیل فایل کتاب Bringing Scanning Probe Microscopy up to Speed به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب افزایش سرعت میکروسکوپ پروب اسکن نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب افزایش سرعت میکروسکوپ پروب اسکن



افزایش سرعت میکروسکوپ پروب اسکن اصول سیستم های کاوشگر اسکن را با تاکید ویژه بر تکنیک های افزایش سرعت معرفی می کند. نویسندگان اطلاعات مفیدی در مورد ویژگی‌ها و محدودیت‌های ماشین‌های پیشرفته فعلی و همچنین ویژگی‌های سیستم‌هایی که در آینده دنبال خواهند شد، ارائه می‌کنند. رویکرد اساسی دوگانه است. اول، سیستم‌های اسکن سریع برای پروب‌های منفرد درمان می‌شوند و دوم، سیستم‌هایی با چندین پروب که به‌طور موازی کار می‌کنند ارائه می‌شوند.
اجزای کلیدی SPM عبارتند از ریزکنتیلور مکانیکی با نوک یکپارچه و سیستم‌هایی که برای اندازه‌گیری انحراف آن استفاده می‌شوند. در اصل، کل دستگاه به حرکت دادن نوک روی یک سطح با نیرویی به خوبی کنترل شده اختصاص داده شده است. پاسخ مکانیکی محرک که بر نیرو حاکم است از اهمیت بالایی برخوردار است زیرا سرعت اسکن را تعیین می کند. پاسخ مکانیکی مستقیماً به اندازه محرک مربوط می شود. کوچکتر سریعتر است میکروسکوپ‌های کاوشگر روبشی سنتی برای حرکت دادن پروب به لوله‌های پیزوالکتریک با اندازه سانتی‌متر متکی هستند. در سیستم‌های کاوشگر اسکن آینده، محرک‌های بزرگ با کنسول‌هایی جایگزین می‌شوند که در آن محرک‌ها روی پرتو یکپارچه می‌شوند. اینها در آرایه‌هایی از چندین کنسول با MEMS به عنوان فناوری کلیدی برای فرآیند ساخت ترکیب می‌شوند.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Bringing Scanning Probe Microscopy Up to Speed introduces the principles of scanning probe systems with particular emphasis on techniques for increasing speed. The authors include useful information on the characteristics and limitations of current state-of-the-art machines as well as the properties of the systems that will follow in the future. The basic approach is two-fold. First, fast scanning systems for single probes are treated and, second, systems with multiple probes operating in parallel are presented.
The key components of the SPM are the mechanical microcantilever with integrated tip and the systems used to measure its deflection. In essence, the entire apparatus is devoted to moving the tip over a surface with a well-controlled force. The mechanical response of the actuator that governs the force is of the utmost importance since it determines the scanning speed. The mechanical response relates directly to the size of the actuator; smaller is faster. Traditional scanning probe microscopes rely on piezoelectric tubes of centimeter size to move the probe. In future scanning probe systems, the large actuators will be replaced with cantilevers where the actuators are integrated on the beam. These will be combined in arrays of multiple cantilevers with MEMS as the key technology for the fabrication process.



فهرست مطالب

Front Matter....Pages i-xiii
Improving Conventional Scanning Probe Microscopes....Pages 15-22
Design of Piezoresistive Cantilevers with Integrated Actuators....Pages 23-48
Increasing the Speed of Imaging....Pages 49-80
Cantilevers with Interdigital Deflection Sensors....Pages 81-98
Operation of the Interdigital Cantilever....Pages 99-118
Cantilever Arrays....Pages 119-130
Scanning Probes for Information Storage and Retrieval....Pages 131-140
Silicon Process Flow: ZnO actuator and piezoresistive sensor....Pages 141-157
Silicon Process Flow: Interdigital Cantilever....Pages 159-167
Back Matter....Pages 169-173




نظرات کاربران