دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: فیزیک ویرایش: 1 نویسندگان: John H. Thomas III (auth.), Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powell (eds.) سری: Methods of Surface Characterization 5 ISBN (شابک) : 0306458969, 9780306469145 ناشر: Springer US سال نشر: 2002 تعداد صفحات: 451 زبان: English فرمت فایل : DJVU (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 6 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب اثرات پرتو، توپوگرافی سطحی و عمق نفوذ در تحلیل سطح: خصوصیات و ارزیابی مواد، مواد نوری و الکترونیکی، شیمی تجزیه
در صورت تبدیل فایل کتاب Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب اثرات پرتو، توپوگرافی سطحی و عمق نفوذ در تحلیل سطح نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
کتابهای زیادی در دسترس هستند که اصول اولیه روشهای مختلف توصیف سطح را به تفصیل شرح میدهند. از سوی دیگر، ادبیات علمی منبعی از چگونگی انجام تک تک تحقیقات توسط آزمایشگاههای خاص فراهم میکند. بین این دو افراط، ادبیات نازک است، اما اینجاست که حجم فعلی به راحتی مینشیند. هم دانشمند تازه وارد و هم دانشمند بالغ تر، در این فصل ها انبوهی از جزئیات و همچنین توصیه ها و راهنمایی های کلی از پدیده های اصلی مربوط به مطالعه نمونه های واقعی را خواهند یافت. در تجزیه و تحلیل نمونه ها، تحلیلگران عملی مدل های نسبتاً ساده ای از نحوه عملکرد همه چیز دارند. بر این دنیای ایدهآل، درک این موضوع است که چگونه پارامترهای روش اندازهگیری، ابزار دقیق، و ویژگیهای نمونه، این دنیای ایدهآل را به چیزی کمتر دقیق، کمتر کنترلشده و کمتر درکتر تحریف میکنند. راهنماییهای ارائهشده در این فصلها به دانشمند این امکان را میدهد تا بفهمد که چگونه دقیقترین و قابل درکترین اندازهگیریهایی را که در حال حاضر ممکن است به دست آورد و در مواردی که مشکلات اجتنابناپذیری وجود دارد، راهنمایی روشنی به عنوان وسعت مشکل و رفتار احتمالی آن داشته باشد. /p>
Many books are available that detail the basic principles of the different methods of surface characterization. On the other hand, the scientific literature provides a resource of how individual pieces of research are conducted by particular labo- tories. Between these two extremes the literature is thin but it is here that the present volume comfortably sits. Both the newcomer and the more mature scientist will find in these chapters a wealth of detail as well as advice and general guidance of the principal phenomena relevant to the study of real samples. In the analysis of samples, practical analysts have fairly simple models of how everything works. Superimposed on this ideal world is an understanding of how the parameters of the measurement method, the instrumentation, and the char- teristics of the sample distort this ideal world into something less precise, less controlled, and less understood. The guidance given in these chapters allows the scientist to understand how to obtain the most precise and understood measu- ments that are currently possible and, where there are inevitable problems, to have clear guidance as the extent of the problem and its likely behavior.
Photon Beam Damage and Charging at Solid Surfaces....Pages 1-37
Electron Beam Damage at Solid Surfaces....Pages 39-96
Ion Beam Bombardment Effects on Solid Surfaces at Energies Used for Sputter Depth Profiling....Pages 97-274
Characterization of Surface Topography....Pages 275-354
Depth Profiling Using Sputtering Methods....Pages 355-419