دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1st ed. نویسندگان: Jakub Breier, Xiaolu Hou, Shivam Bhasin سری: ISBN (شابک) : 9783030113322, 9783030113339 ناشر: Springer International Publishing سال نشر: 2019 تعداد صفحات: 342 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 9 مگابایت
در صورت ایرانی بودن نویسنده امکان دانلود وجود ندارد و مبلغ عودت داده خواهد شد
کلمات کلیدی مربوط به کتاب روشهای خودکار در تجزیه و تحلیل خطاهای رمزنگاری شده: مهندسی، مدارها و سیستم ها، معماری پردازنده، الکترونیک و میکروالکترونیک، ابزار دقیق
در صورت تبدیل فایل کتاب Automated Methods in Cryptographic Fault Analysis به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب روشهای خودکار در تجزیه و تحلیل خطاهای رمزنگاری شده نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب مجموعهای از روشهای خودکار را ارائه میکند که برای جنبههای مختلف تحلیل خطا در رمزنگاری مفید هستند. بخش اول بر تجزیه و تحلیل خودکار مشخصات طراحی رمز متقارن، پیاده سازی نرم افزار و مدارهای سخت افزاری تمرکز دارد. بخش دوم استقرار خودکار اقدامات متقابل را فراهم می کند. بخش سوم ارزیابی خودکار اقدامات متقابل در برابر حملات خطا را ارائه می دهد. در نهایت، بخش چهارم بر خودکار کردن آزمایشهای حمله خطا تمرکز دارد. روش های ارائه شده توسعه دهندگان نرم افزار، طراحان مدار و رمزنگاران را قادر می سازد تا محصولات خود را آزمایش و سخت کنند.
This book presents a collection of automated methods that are useful for different aspects of fault analysis in cryptography. The first part focuses on automated analysis of symmetric cipher design specifications, software implementations, and hardware circuits. The second part provides automated deployment of countermeasures. The third part provides automated evaluation of countermeasures against fault attacks. Finally, the fourth part focuses on automating fault attack experiments. The presented methods enable software developers, circuit designers, and cryptographers to test and harden their products.
Front Matter ....Pages i-xxi
Introduction to Fault Analysis in Cryptography (Jakub Breier, Xiaolu Hou)....Pages 1-10
Front Matter ....Pages 11-11
ExpFault: An Automated Framework for Block Cipher Fault Analysis (Sayandeep Saha, Debdeep Mukhopadhyay, Pallab Dasgupta)....Pages 13-57
Exploitable Fault Space Characterization: A Complementary Approach (Sayandeep Saha, Dirmanto Jap, Sikhar Patranabis, Debdeep Mukhopadhyay, Shivam Bhasin, Pallab Dasgupta)....Pages 59-88
Differential Fault Analysis Automation on Assembly Code (Jakub Breier, Xiaolu Hou, Yang Liu)....Pages 89-119
An Automated Framework for Analysis and Evaluation of Algebraic Fault Attacks on Lightweight Block Ciphers (Fan Zhang, Bolin Yang, Shize Guo, Xinjie Zhao, Tao Wang, Francois-Xavier Standaert et al.)....Pages 121-150
Automatic Construction of Fault Attacks on Cryptographic Hardware Implementations (Ilia Polian, Mael Gay, Tobias Paxian, Matthias Sauer, Bernd Becker)....Pages 151-170
Front Matter ....Pages 171-171
Automated Deployment of Software Encoding Countermeasure (Jakub Breier, Xiaolu Hou)....Pages 173-194
Idempotent Instructions to Counter Fault Analysis Attacks (Sikhar Patranabis, Debdeep Mukhopadhyay)....Pages 195-208
Differential Fault Attack Resistant Hardware Design Automation (Mustafa Khairallah, Jakub Breier, Shivam Bhasin, Anupam Chattopadhyay)....Pages 209-219
Front Matter ....Pages 221-221
Automated Evaluation of Software Encoding Schemes (Jakub Breier, Dirmanto Jap, Shivam Bhasin)....Pages 223-245
Automated Evaluation of Concurrent Error Detection Code Protected Hardware Implementations (Dirmanto Jap, Jakub Breier, Shivam Bhasin, Anupam Chattopadhyay)....Pages 247-262
Fault Analysis Assisted by Simulation (Kais Chibani, Adrien Facon, Sylvain Guilley, Damien Marion, Yves Mathieu, Laurent Sauvage et al.)....Pages 263-277
Front Matter ....Pages 279-279
Optimizing Electromagnetic Fault Injection with Genetic Algorithms (Antun Maldini, Niels Samwel, Stjepan Picek, Lejla Batina)....Pages 281-300
Automated Profiling Method for Laser Fault Injection in FPGAs (Jakub Breier, Wei He, Shivam Bhasin, Dirmanto Jap, Samuel Chef, Hock Guan Ong et al.)....Pages 301-325
Back Matter ....Pages 327-334