ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

دانلود کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی / میکروسکوپ تونل زنی اسکن 2

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

مشخصات کتاب

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

ویرایش: 1 
نویسندگان: , ,   
سری:  
ISBN (شابک) : 9781475793277, 9781475793253 
ناشر: Springer US 
سال نشر: 1997 
تعداد صفحات: 243 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 9 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 36,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی / میکروسکوپ تونل زنی اسکن 2: خصوصیات و ارزیابی مواد، میکروسکوپ بیولوژیکی، شیمی تحلیلی، ساختار اتمی/مولکولی و طیف



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 11


در صورت تبدیل فایل کتاب Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2 به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی / میکروسکوپ تونل زنی اسکن 2 نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی / میکروسکوپ تونل زنی اسکن 2



این کتاب مجموعه مقالات ارائه شده در دومین سمپوزیوم میکروسکوپ نیروی اتمی/میکروسکوپ تونل روبشی (AFM/STM) است که در 7 تا 9 ژوئن 1994 در ناتیک، ماساچوست، در مرکز تحقیقات، توسعه و مهندسی ناتیک برگزار شد. اکنون بخشی از ایالات متحده فرماندهی سیستم های سرباز ارتش. همانند سمپوزیوم 1993، سمپوزیوم 1994 انجمنی را فراهم کرد که در آن دانشمندان با علاقه مشترک به AFM، STM و سایر میکروسکوپ‌های کاوشگر می‌توانستند با یکدیگر تعامل داشته باشند، ایده‌ها را تبادل کنند و احتمالات همکاری‌ها و روابط کاری آتی را بررسی کنند. علاوه بر صحبت‌های برنامه‌ریزی شده و جلسات پوستر، نمایشگاه تجهیزاتی شامل جدیدترین میکروسکوپ‌های AFM/STM، سایر میکروسکوپ‌های کاوشگر، سخت‌افزار و نرم‌افزار تصویربرداری، و همچنین آخرین نمونه‌های مربوط به میکروسکوپ و آماده‌سازی نمونه، وجود داشت. تجهیزات جانبی. همه اینها با استقبال بسیار خوبی از سوی شرکت کنندگان در جلسه مواجه شد. پس از سخنان افتتاحیه فرمانده ناتیک، سرهنگ موریس ای. پرایس، جونیور، و مدیر فنی، دکتر رابرت دبلیو لوئیس، سمپوزیوم با سخنرانی اصلی دکتر مایکل اف. کرومی از دانشگاه بوستون آغاز شد. دستور جلسه به چهار جلسه اصلی تقسیم شد. مقالات (و پوسترها) ارائه شده در سمپوزیوم طیف وسیعی از موضوعات را در میکروسکوپ نیروی اتمی، میکروسکوپ تونل زنی روبشی و سایر میکروسکوپ های کاوشگر نشان می دهد.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book represents the compilation of papers presented at the second Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium, held June 7 to 9, 1994, in Natick, Massachusetts, at Natick Research, Development and Engineering Center, now part ofU.S. Army Soldier Systems Command. As with the 1993 symposium, the 1994 symposium provided a forum where scientists with a common interest in AFM, STM, and other probe microscopies could interact with one another, exchange ideas and explore the possibilities for future collaborations and working relationships. In addition to the scheduled talks and poster sessions, there was an equipment exhibit featuring the newest state-of-the-art AFM/STM microscopes, other probe microscopes, imaging hardware and software, as well as the latest microscope-related and sample preparation accessories. These were all very favorably received by the meeting's attendees. Following opening remarks by Natick's Commander, Colonel Morris E. Price, Jr., and the Technical Director, Dr. Robert W. Lewis, the symposium began with the Keynote Address given by Dr. Michael F. Crommie from Boston University. The agenda was divided into four major sessions. The papers (and posters) presented at the symposium represented a broad spectrum of topics in atomic force microscopy, scanning tunneling microscopy, and other probe microscopies.



فهرست مطالب

Front Matter....Pages i-ix
Keynote Address....Pages 1-3
Front Matter....Pages 5-5
Scanning Tunneling Microscopy for Very Large-Scale Integration (VLSI) Inspection....Pages 7-22
Scanning Tunneling Microscopy-Based Fabrication of Nanometer Scale Structures....Pages 23-40
A Microscopy for Our Time....Pages 41-44
Scanning Tunneling Microscopy of Chemical Vapor Deposition Diamond Film Growth on Highly Oriented Pyrolytic Graphite and Silicon....Pages 45-51
Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy of Chemical-Vapor-Deposition Diamond and Diamond-Like Carbon Thin Films....Pages 53-58
Atomic Resolution Ultrahigh Vacuum Scanning Tunneling Microscopy of Diamond (100) Epitaxial Films....Pages 59-64
Scanning Force Microscopy Characterization of Biopolymer Films: Gelatin on Mica....Pages 65-73
Gasification Studies of Graphite Surface by Scanning Tunneling Microscopy....Pages 75-81
Scanning Tunneling Microscopy Studies of Hydrocarbons Adsorbed on Graphite Surfaces....Pages 83-90
Front Matter....Pages 91-91
Visualization of the Surface Degradation of Biomedical Polymers in Situ with an Atomic Force Microscope....Pages 93-98
Scanning Tunneling Microscopy Investigations on Heteroepitaxially Grown Overlayers of Cu-Phthalocyanine on Au(111) Surfaces....Pages 99-106
Characterization of Poly(Tetrafluoroethylene) Surfaces by Atomic Force Microscopy—Results and Artifacts....Pages 107-113
Scanning Probe Microscopy Studies of Isocyanide Functionalized Polyaniline Thin Films....Pages 115-123
Front Matter....Pages 125-125
Investigations on the Topographic and Spectroscopic Imaging by the Scanning Tunneling Microscope....Pages 127-135
Observing Reactions via Flow Injection Scanning Tunneling Microscopy....Pages 137-146
Advances in Piezoresistive Cantilevers for Atomic Force Microscopy....Pages 147-153
Nanometer-Scale Qualitative Analysis of Surfaces With a Modified Scanning Tunneling Microscope/ Field Emission Source....Pages 155-159
Atomic Force Microscopy Imaging of Single Ion Impacts on Mica....Pages 161-168
Front Matter....Pages 169-169
Applications of Atomic Force Microscopy in Optical Fiber Research....Pages 171-178
Front Matter....Pages 169-169
Atomic Force Microscopy Studies on Optical Fibers....Pages 179-188
Scanning Tunneling Microscopy Studies of Solvent-Deposited Materials on Highly Oriented Pyrolytic Graphite....Pages 189-194
 In Situ Study of Stainless Steel’s Passive Layer Exposed to HCL Using a Scanning Tunneling Microscope....Pages 195-202
Application of Magnetic Force Microscopy in Magnetic Recording....Pages 203-214
Scanning Electron Microscopy, Scanning Tunneling Microscopy, and Atomic Force Microscopy Studies of Selected Videotapes....Pages 215-226
Surface Characteristics Evaluation of Thin Films by Atomic Force Microscopy....Pages 227-231
Current Versus Voltage Characteristics for Deposition and Removal of Gold Nanostructures on a Gold Surface Using Scanning Tunneling Microscopy....Pages 233-239
Atomic Force Microscopy of Ion-Beam Modified Carbon Fibers....Pages 241-247
Back Matter....Pages 249-250




نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی