Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) از دهه 1990 با موفقیت برای انجام عملیات دستکاری نانوروباتیک بر روی موجودات در مقیاس نانو مانند ذرات، نانولوله ها، نانوسیم ها، نانوبلورها و DNA استفاده شده است.

پیشرفت‌های زیادی در زمینه مدل‌سازی، تصویربرداری، کنترل از راه دور یا خودکار، رابط انسان و ماشین، ابزار دقیق و کاربردهای سیستم‌های دستکاری نانوروباتیک مبتنی بر AFM در ادبیات صورت گرفته است. هدف این کتاب این است که تمام این پیشرفت‌های پیشرفته را به صورت سازمان‌یافته، ساختاریافته و دقیق به‌عنوان یک کتاب مرجع و همچنین به‌طور بالقوه یک کتاب درسی در زمینه نانورباتیک و هر دینامیک، سیستم‌ها و کنترل‌های مرتبط با تحقیقات و آموزش در مقیاس نانو در بر گیرد.

این متن که به وضوح نوشته شده و به خوبی سازماندهی شده است، طرح‌ها و نمونه‌های اولیه سیستم‌های نانورباتیک را با اصول مبتکرانه میکروسکوپ نیروی دستکاری سه بعدی و میکروسکوپ نیروی تصویربرداری/دستکاری موازی با جزئیات معرفی می‌کند.

The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.

There have been many progress on modeling, imaging, teleoperated or automated control, human-machine interfacing, instrumentation, and applications of AFM based nanorobotic manipulation systems in literature. This book aims to include all of such state-of-the-art progress in an organized, structured, and detailed manner as a reference book and also potentially a textbook in nanorobotics and any other nanoscale dynamics, systems and controls related research and education.

Clearly written and well-organized, this text introduces designs and prototypes of the nanorobotic systems in detail with innovative principles of three-dimensional manipulation force microscopy and parallel imaging/manipulation force microscopy.