Atom Probe Tomography. Put Theory Into Practice

توموگرافی کاوشگر اتمی برای مبتدیان و محققینی که علاقه مند به گسترش تخصص خود در این زمینه هستند، طراحی شده است. این پیش‌زمینه نظری و اطلاعات عملی لازم برای بررسی نحوه کار مواد با استفاده از تکنیک‌های میکروسکوپ کاوشگر اتمی را فراهم می‌کند و شامل توضیحات مفصلی از اصول، ابزار دقیق، تکنیک‌های آماده‌سازی نمونه معاصر، و جزئیات تجربی، و همچنین مروری بر نتایجی است که می‌تواند بدست آید. این کتاب بر فرآیندهای ارزیابی کیفیت داده ها و اجرای صحیح الگوریتم های داده کاوی پیشرفته تاکید دارد.

برای کسانی که در این تکنیک تجربه بیشتری دارند، این کتاب به عنوان یک منبع جامع از اطلاعات مرجع ضروری، جداول و تکنیک ها عمل خواهد کرد. هم مبتدی و هم متخصص به روشی که کتاب در زمینه علم و مهندسی مواد تنظیم شده است، ارزش قائل هستند. علاوه بر این، ارجاعات آن به نتایج کلیدی تحقیقاتی بر اساس برنامه آموزشی برگزار شده در دانشگاه روئن - یکی از مراکز تحقیقاتی علمی پیشرو که جنبه‌های مختلف ابزار را بررسی می‌کند - درک و فرآیند یادگیری را بیشتر می‌کند.

Atom Probe Tomography is aimed at beginners and researchers interested in expanding their expertise in this area. It provides the theoretical background and practical information necessary to investigate how materials work using atom probe microscopy techniques, and includes detailed explanations of the fundamentals, the instrumentation, contemporary specimen preparation techniques, and experimental details, as well as an overview of the results that can be obtained. The book emphasizes processes for assessing data quality and the proper implementation of advanced data mining algorithms.

For those more experienced in the technique, this book will serve as a single comprehensive source of indispensable reference information, tables, and techniques. Both beginner and expert will value the way the book is set out in the context of materials science and engineering. In addition, its references to key research outcomes based upon the training program held at the University of Rouen-one of the leading scientific research centers exploring the various aspects of the instrument-will further enhance understanding and the learning process.

• Provides an introduction to the capabilities and limitations of atom probe tomography when analyzing materials
• Written for both experienced researchers and new users
• Includes exercises, along with corrections, for users to practice the techniques discussed
• Contains coverage of more advanced and less widespread techniques, such as correlative APT and STEM microscopy