Atom Probe Microscopy

میکروسکوپ کاوشگر اتمی، خصوصیات ساختار و شیمی مواد را در سه بعدی با وضوح نزدیک به اتمی امکان پذیر می کند. این تکنیک منحصر به فرد قدرتمند در دهه گذشته با توسعه آشکارسازهای میدان دید گسترده و تبخیر به کمک لیزر پالسی که قابلیت‌های دستگاه را به طور قابل توجهی افزایش داده است، در معرض پیشرفت‌های ابزاری بزرگی قرار گرفته است. این میدان در حال شکوفایی است، و میکروسکوپ کاوشگر اتمی به عنوان یک تکنیک اصلی توصیف می‌شود. این کتاب تمام جنبه‌های میکروسکوپ کاوشگر اتمی را پوشش می‌دهد - از جمله میکروسکوپ یونی میدانی، میکروسکوپ دفع میدانی و تأکید زیادی بر توموگرافی کاوشگر اتمی.

میکروسکوپ کاوشگر اتمی با هدف انجام می‌شود. محققان در تمام سطوح تجربه پیشینه نظری و اطلاعات عملی لازم برای بررسی نحوه کار مواد با استفاده از تکنیک های میکروسکوپ کاوشگر اتمی را در اختیار مبتدی قرار می دهد. این شامل توضیحات دقیق در مورد اصول و ابزار دقیق، تکنیک های آماده سازی نمونه معاصر، جزئیات تجربی، و یک نمای کلی از نتایجی است که می توان به دست آورد. این کتاب بر فرآیندهای ارزیابی کیفیت داده ها و اجرای صحیح الگوریتم های داده کاوی پیشرفته تأکید دارد. کسانی که در این تکنیک تجربه بیشتری دارند، از کتاب به عنوان یک منبع جامع از اطلاعات مرجع ضروری، جداول و تکنیک ها بهره مند خواهند شد. هم مبتدی و هم متخصص به روشی که میکروسکوپ کاوشگر اتمی در زمینه علم و مهندسی مواد تنظیم شده است و شامل ارجاعاتی به نتایج کلیدی تحقیقات اخیر است، ارزش خواهند گذاشت.

Atom probe microscopy enables the characterization of materials structure and chemistry in three dimensions with near-atomic resolution. This uniquely powerful technique has been subject to major instrumental advances over the last decade with the development of wide-field-of-view detectors and pulsed-laser-assisted evaporation that have significantly enhanced the instrument’s capabilities. The field is flourishing, and atom probe microscopy is being embraced as a mainstream characterization technique. This book covers all facets of atom probe microscopy—including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography.

Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels. It will provide the beginner with the theoretical background and practical information necessary to investigate how materials work using atom probe microscopy techniques. This includes detailed explanations of the fundamentals and the instrumentation, contemporary specimen preparation techniques, experimental details, and an overview of the results that can be obtained. The book emphasizes processes for assessing data quality, and the proper implementation of advanced data mining algorithms. Those more experienced in the technique will benefit from the book as a single comprehensive source of indispensable reference information, tables and techniques. Both beginner and expert will value the way that Atom Probe Microscopy is set out in the context of materials science and engineering, and includes references to key recent research outcomes.