دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: Tien T. Tsong
سری:
ISBN (شابک) : 9780521019934, 0521019931
ناشر:
سال نشر: 2005
تعداد صفحات: 395
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 20 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Atom-Probe Field Ion Microscopy: Field Ion Emission, and Surfaces and Interfaces at Atomic Resolution به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ یون میدانی اتم-کاوشگر: انتشار یون میدانی، و سطوح و رابطها در وضوح اتمی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
میکروسکوپ یون میدان کاوشگر اتمی در حال حاضر تنها تکنیکی است که قادر به تصویربرداری از سطوح جامد با وضوح اتمی است و در عین حال آنالیز شیمیایی اتمهای سطحی انتخاب شده توسط ناظر از تصویر یون میدان را دارد. میکروسکوپ یون میدانی با موفقیت برای مطالعه بیشتر فلزات و بسیاری از آلیاژها استفاده شده است و اخیراً تصاویر یون میدان خوبی از برخی نیمه هادی ها و حتی مواد سرامیکی مانند ابررساناهای با دمای بالا به دست آمده است. اگرچه سایر میکروسکوپها قادر به دستیابی به وضوح مشابه هستند، آزمایشهایی منحصر به فرد برای میکروسکوپ یونی میدانی وجود دارد - برای مثال مطالعه رفتار اتمها و خوشههای منفرد روی یک سطح جامد. توسعه بسیار ظریف میکروسکوپ یونی میدانی با کاوشگر اتمی، یک تکنیک قدرتمند و مفید برای تجزیه و تحلیل شیمیایی بسیار حساس ارائه کرده است. این کتاب اصول اولیه میکروسکوپ یونی میدان اتم-کاوشگر را ارائه میکند و قابلیتهای مختلف این تکنیک را در مطالعه سطوح جامد و سطح مشترک در وضوح اتمی نشان میدهد.
Atom-probe field ion microscopy is currently the only technique capable of imaging solid surfaces with atomic resolution, and at the same time of chemically analyzing surface atoms selected by the observer from the field ion image. Field ion microscopy has been successfully used to study most metals and many alloys, and recently good field ion images of some semiconductors and even ceramic materials such as high temperature superconductors have been obtained. Although other microscopies are capable of achieving the same resolution, there are some experiments unique to field ion microscopy--for example the study of the behavior of single atoms and clusters on a solid surface. The very elegant development of the field ion microscope with the atom-probe has provided a powerful and useful technique for highly sensitive chemical analysis. This book presents the basic principles of atom-probe field ion microscopy and illustrates the various capabilities of the technique in the study of solid surfaces and interfaces at atomic resolution.