ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization (NanoScience and Technology) (No. XII)

دانلود کتاب روش‌های پروب اسکن کاربردی XII: مشخص‌سازی (علم و فناوری نانو) (شماره XII)

Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization (NanoScience and Technology) (No. XII)

مشخصات کتاب

Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization (NanoScience and Technology) (No. XII)

دسته بندی: فیزیک
ویرایش: 1 
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 3540850384 
ناشر: Springer 
سال نشر: 2008 
تعداد صفحات: 271 
زبان: English  
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 27 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 40,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب روش‌های پروب اسکن کاربردی XII: مشخص‌سازی (علم و فناوری نانو) (شماره XII): فیزیک، کارگاه های آموزشی، فیزیک تجربی و روش های تحقیق فیزیکی



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 13


در صورت تبدیل فایل کتاب Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization (NanoScience and Technology) (No. XII) به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب روش‌های پروب اسکن کاربردی XII: مشخص‌سازی (علم و فناوری نانو) (شماره XII) نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب روش‌های پروب اسکن کاربردی XII: مشخص‌سازی (علم و فناوری نانو) (شماره XII)

جلدهای XI، XII و XIII به بررسی شالوده فیزیکی و فنی برای پیشرفت اخیر در تکنیک‌های پروب اسکن کاربردی می‌پردازند. جلد اول در ژانویه 2004، جلد دوم تا چهارم در اوایل سال 2006 و جلد پنجم تا هفتم در اواخر سال 2006 منتشر شد. این زمینه به قدری سریع در حال پیشرفت است که نیاز به مجموعه ای از مجلدات هر 12 تا 18 ماه برای گرفتن است. آخرین تحولات این مجلدات یک نمای کلی جامع به موقع از برنامه های کاربردی SPM را تشکیل می دهند. پس از معرفی میکروسکوپ پروب روبشی، از جمله فناوری حسگر و مشخصه نوک، فصل‌هایی در مورد استفاده در کاربردهای مختلف صنعتی ارائه می‌شود. کاربردهای صنعتی مطالعات سطح توپوگرافی و دینامیکی نیمه هادی های لایه نازک، پلیمرها، کاغذ، سرامیک و مواد مغناطیسی و بیولوژیکی را در بر می گیرد. این فصل ها توسط محققان برجسته و دانشمندان کاربردی از سراسر جهان و از صنایع مختلف نوشته شده است تا دیدگاه گسترده تری ارائه دهد.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

The volumes XI, XII and XIII examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The first volume came out in January 2004, the second to fourth volumes in early 2006 and the fifth to seventh volumes in late 2006. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM applications. After introducing scanning probe microscopy, including sensor technology and tip characterization, chapters on use in various industrial applications are presented. Industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. The chapters have been written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspective.





نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی