Applied Scanning Probe Methods V: Scanning Probe Microscopy Techniques

میکروسکوپ پروب روبشی ?eld به سرعت در حال گسترش است. جمع آوری یک نمای کلی به موقع از این بخش با تاکید بر توسعه های فنی و کاربردهای صنعتی یک کار دشوار است. در هنگام ویرایش جلدها آشکار شد. I–IV که تعداد زیادی از جنبه های فنی و کاربردی وجود دارد و به سرعت در سراسر جهان در حال توسعه است. با توجه به موفقیت Vols. I–IV و این واقعیت که همکاران بیشتری از آزمایشگاه‌های پیشرو آماده بودند تا آخرین دستاوردهای خود را به اشتراک بگذارند، ما تصمیم گرفتیم این مجموعه را با مقالاتی که در جلدهای قبلی پوشش داده نشده‌اند، گسترش دهیم. استقبال و حمایت همکاران ما بسیار عالی بود و امکان ویرایش سه جلد دیگر از این مجموعه را فراهم کرد. برخلاف مقالات کنفرانسی، روش‌های کاوشگر روبشی کاربردی قصد دارند مروری بر پیشرفت‌های اخیر به‌عنوان خلاصه‌ای برای کاربردهای عملی و نتایج تحقیقات پایه اخیر و پیشرفت‌های فنی جدید با توجه به ابزار دقیق و کاوشگر ارائه دهند. جلدهای حاضر سه حوزه اصلی را پوشش می‌دهند: پروب‌ها و تکنیک‌های جدید (جلد V)، مشخص‌سازی (جلد شش)، و بیومیمتیک و کاربردهای صنعتی (جلد VII). جلد V شامل مروری بر فناوری‌های کاوشگر و حسگر از جمله مفاهیم یکپارچه کنسول، میکرواسکنرهای الکترواستاتیک، روش‌های کم نویز و تکنیک‌های میکروسکوپ نیروی دینامیکی بهبودیافته، نیروی دینامیکی با تشدید بالا - متقاطع و روش رزونانس پیچشی، مدل‌سازی سیستم‌های کنسول نوک، پروب اسکن روش‌ها، روش‌های اندازه‌گیری الاستیسیته و چسبندگی در مقیاس نانومتری و همچنین کاربردهای نوری تکنیک‌های کاوشگر اسکن مبتنی بر طیف‌سنجی و تصویربرداری رامان نزدیک.

The scanning probe microscopy ?eld has been rapidly expanding. It is a demanding task to collect a timely overview of this ?eld with an emphasis on technical dev- opments and industrial applications. It became evident while editing Vols. I–IV that a large number of technical and applicational aspects are present and rapidly - veloping worldwide. Considering the success of Vols. I–IV and the fact that further colleagues from leading laboratories were ready to contribute their latest achie- ments, we decided to expand the series with articles touching ?elds not covered in the previous volumes. The response and support of our colleagues were excellent, making it possible to edit another three volumes of the series. In contrast to to- cal conference proceedings, the applied scanning probe methods intend to give an overview of recent developments as a compendium for both practical applications and recent basic research results, and novel technical developments with respect to instrumentation and probes. The present volumes cover three main areas: novel probes and techniques (Vol. V), charactarization (Vol. VI), and biomimetics and industrial applications (Vol. VII). Volume V includes an overview of probe and sensor technologies including integrated cantilever concepts, electrostatic microscanners, low-noise methods and improved dynamic force microscopy techniques, high-resonance dynamic force - croscopy and the torsional resonance method, modelling of tip cantilever systems, scanning probe methods, approaches for elasticity and adhesion measurements on the nanometer scale as well as optical applications of scanning probe techniques based on near?eld Raman spectroscopy and imaging.