Applications of Random Process Excursion Analysis

این کتاب به یکی از مشکلات کلیدی در پردازش سیگنال می پردازد، مشکل شناسایی ویژگی های آماری گشت و گذارها در یک فرآیند تصادفی به منظور ساده سازی تحلیل نظری و مناسب ساختن آن برای کاربردهای مهندسی. فرمول‌های دقیق و تقریبی توضیح داده شده‌اند که نسبتاً ساده هستند و می‌توانند برای کاربردهای مهندسی مانند طراحی دستگاه‌هایی که می‌توانند بر عدم قطعیت اولیه بالای دوره خودآموزی غلبه کنند، استفاده شوند. اطلاعات ارائه‌شده در تک نگاری را می توان برای پیاده سازی دستگاه های پردازش سیگنال تطبیقی ​​که قادر به تشخیص یا تشخیص سیگنال های مورد نظر (با ویژگی های آماری ناشناخته پیشینی) در برابر نویز پس زمینه هستند، استفاده کرد. برنامه های کاربردی ارائه شده را می توان در طیف گسترده ای از زمینه ها از جمله پزشکی، مکان یابی رادیویی، مخابرات، کنترل کیفیت سطح (تشخیص عیب)، تشخیص تصویر، آنالیز نویز حرارتی برای طراحی نیمه هادی ها و محاسبه بار بیش از حد در مکانیک استفاده کرد.

• دانشجویان و محققان انگلیسی زبان را با نتایج به دست آمده در موسسات دانشگاهی شوروی سابق/روسیه در چند دهه اخیر آشنا می کند.
• تعدادی از برنامه های کاربردی مناسب برای همه سطوح از مقطع کارشناسی را ارائه می دهد. به حرفه ای
• شامل شبیه سازی های کامپیوتری است

This book addresses one of the key problems in signal processing, the problem of identifying statistical properties of excursions in a random process in order to simplify the theoretical analysis and make it suitable for engineering applications. Precise and approximate formulas are explained, which are relatively simple and can be used for engineering applications such as the design of devices which can overcome the high initial uncertainty of the self-training period. The information presented in the monograph can be used to implement adaptive signal processing devices capable of detecting or recognizing the wanted signals (with a priori unknown statistical properties) against the background noise. The applications presented can be used in a wide range of fields including medicine, radiolocation, telecommunications, surface quality control (flaw detection), image recognition, thermal noise analysis for the design of semiconductors, and calculation of excessive load in mechanics.

• Introduces English-speaking students and researchers in to the results obtained in the former Soviet/ Russian academic institutions within last few decades.
• Supplies a range of applications suitable for all levels from undergraduate to professional
• Contains computer simulations