دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
دانلود کتاب طیف سنجی جرمی یون ثانویه با وضوح بالا (SIMS) در تجزیه و تحلیل سطح
مشخصات کتاب
Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
ویرایش: نویسندگان: Prof. Dr. Günther von Bünau, Dr. Klaus-Dieter Klöppel (auth.) سری: Forschungsbericht des Landes Nordrhein-Westfalen 3049 ISBN (شابک) : 9783531030494, 9783322875280 ناشر: VS Verlag für Sozialwissenschaften سال نشر: 1981 تعداد صفحات: 26 زبان: German فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 2 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 48,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب طیف سنجی جرمی یون ثانویه با وضوح بالا (SIMS) در تجزیه و تحلیل سطح: علم، عمومی
در صورت تبدیل فایل کتاب Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب طیف سنجی جرمی یون ثانویه با وضوح بالا (SIMS) در تجزیه و تحلیل سطح نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
فهرست مطالب
Front Matter....Pages N1-1
Einleitung....Pages 3-4
Apparatur....Pages 4-5
Allgemeines zur Sekundärionisierung....Pages 5-7
Sekundärionenausbeute....Pages 8-8
Nachweisempfindlichkeit....Pages 9-9
Hochauflösung....Pages 10-14
Fragmentierung organischer Verbindungen....Pages 14-21
Schlußbemerkung....Pages 22-22
Back Matter....Pages 23-25
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب Growth
دانلود کتاب In the months of my son's recovery: poems
دانلود کتاب Casación, Revisión y Extradición en el Nuevo Modelo de Justicia Penal: Legislación, Doctrina y Jurisprudencia
دانلود کتاب Dine Karşı Düşüncenin Tarihi
