دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: فیزیک ویرایش: 1 نویسندگان: Yoshio Waseda سری: Springer Tracts in Modern Physics ISBN (شابک) : 9783540434436, 3540434437 ناشر: Springer سال نشر: 2002 تعداد صفحات: 215 زبان: English فرمت فایل : DJVU (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 3 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization (Springer Tracts in Modern Physics) به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب پراکندگی غیرعادی اشعه ایکس برای مشخصه بندی مواد (تمرینات Springer در فیزیک مدرن) نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
تکامل درک ما از بیشتر خواص مواد کاربردی جدید به دانش ما از ساختار مقیاس اتمی آنها مربوط می شود. برای این کار، چندین تکنیک اشعه ایکس و نوترون به کار گرفته شده است. روش پراکندگی غیرعادی اشعه ایکس (AXS) با بهرهبرداری از اثر پراکندگی غیرعادی در نزدیکی لبه جذب عنصر سازنده، یکی از قویترین روشها برای تعیین دقیق توابع ساختار جزئی جفت اجزای تشکیلدهنده یا محیطی است. عملکرد حول عناصر خاص در سیستم های چند جزئی. AXS برای هر دو سیستم کریستالی و غیر کریستالی، برای مطالعات سطح و مواد توده مفید است. این کتاب اولین کتاب در مورد این روش جدید شخصیت پردازی ساختاری است. اصول و اصول کاربرد را تشریح میکند و همچنین ویژگیهای کاربرد را برای آلیاژهای مایع، مایعات فوقسرد شده، محلولها، شیشههای فلزی، شیشههای اکسیدی، شیشههای یونی ابررسانا و غیره بررسی میکند.
The evolution of our understanding of most properties of new functional materials is related to our knowledge of their atomic-scale structure. To further this, several X-ray and neutron techniques are employed. The anomalous X-ray scattering (AXS) method, exploiting the so-called anomalous dispersion effect near the absorption edge of the constituent element, is one of the most powerful methods for determining the accurate partial structure functions of individual pairs of constituents or the environmental functions around specific elements in multicomponent systems. AXS is useful for both crystalline and non-crystalline systems, for studies of surface and bulk materials. This book is the first on this new method of structural characterization. It describes the basics and application principles, and also treats the specifics of application to liquid alloys, supercooled liquids, solutions, metallic glasses, oxide glasses, superconducting ionic glasses etc.
Structural Characterization of Crystalline and Non-crystalline Materials — A Brief Background of Current Requirements....Pages 1-7
Experimental Determination of Partial and Environmental Structure Functions in Non-crystalline Systems — Fundamental Aspects....Pages 9-20
Nature of Anomalous X-ray Scattering and Its Application to the Structural Analysis of Crystalline and Non-crystalline Systems....Pages 21-38
Experimental Determination of the Anomalous Dispersion Factors of X-rays — Theoretical and Experimental Issues....Pages 39-58
In-House Equipment and Synchrotron Radiation Facilities for Anomalous X-ray Scattering....Pages 59-73
Selected Examples of Structural Determination for Crystalline Materials Using the AXS Method....Pages 75-109
Selected Examples of Structural Determination for Non-crystalline Materials Using the AXS Method....Pages 111-160
Anomalous Small-Angle X-ray Scattering....Pages 161-179
Anomalous Grazing-Incidence X-ray Reflection....Pages 179-198
Merits of Anomalous X-ray Scattering and Its Future Prospects....Pages 199-210