دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Daisuke Shindo. Tetsuo Oikawa (auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9784431703365, 9784431669883
ناشر: Springer Tokyo
سال نشر: 2002
تعداد صفحات: 161
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 9 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب میکروسکوپ الکترونی تحلیلی برای علم مواد: فیزیک ماده متراکم
در صورت تبدیل فایل کتاب Analytical Electron Microscopy for Materials Science به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ الکترونی تحلیلی برای علم مواد نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
میکروسکوپ الکترونی تحلیلی یکی از قدرتمندترین ابزارهای امروزی برای شناسایی مواد پیشرفته ای است که از فناوری نانو قرن بیست و یکم پشتیبانی می کنند. در این کتاب نویسندگان به روشنی هم اصول اساسی و هم آخرین تحولات در این زمینه را توضیح می دهند. علاوه بر توصیف اساسی فرآیند پراکندگی غیر کشسان، توضیحی در مورد سخت افزار تشکیل دهنده ارائه شده است. تکنیکهای تحلیلی کمی استاندارد با استفاده از طیفسنجی از دست دادن انرژی الکترون و طیفسنجی پرتو ایکس پراکنده انرژی نیز همراه با تکنیکهای نگاشت عنصری توضیح داده شدهاند. شامل بخش هایی در مورد پراش الکترون پرتو همگرا و هولوگرافی الکترونی با استفاده از تفنگ انتشار میدانی است. با استفاده سخاوتمندانه از تصاویر و دادههای تجربی، این کتاب منبع ارزشمندی برای هر کسی است که با مشخصات مواد، میکروسکوپ الکترونی، علم مواد، کریستالوگرافی و ابزار دقیق مرتبط است.
Analytical electron microscopy is one of the most powerful tools today for characterization of the advanced materials that support the nanotechnology of the twenty-first century. In this book the authors clearly explain both the basic principles and the latest developments in the field. In addition to a fundamental description of the inelastic scattering process, an explanation of the constituent hardware is provided. Standard quantitative analytical techniques employing electron energy-loss spectroscopy and energy-dispersive X-ray spectroscopy are also explained, along with elemental mapping techniques. Included are sections on convergent beam electron diffraction and electron holography utilizing the field emission gun. With generous use of illustrations and experimental data, this book is a valuable resource for anyone concerned with materials characterization, electron microscopy, materials science, crystallography, and instrumentation.
Front Matter....Pages N1-IX
Basic Principles of Analytical Electron Microscopy....Pages 1-11
Constitution and Basic Operation of Analytical Electron Microscopes....Pages 13-41
Electron Energy-Loss Spectroscopy....Pages 43-80
Energy Dispersive X-ray Spectroscopy....Pages 81-102
Peripheral Instruments and Techniques for Analytical Electron Microscopy....Pages 103-136
Back Matter....Pages 137-155