Analog Circuit Design for Process Variation-Resilient Systems-on-a-Chip

این کتاب چندین تکنیک را برای رسیدگی به چالش‌های طراحی مرتبط با تغییرات برای بلوک‌های آنالوگ در سیستم‌های سیگنال مختلط روی تراشه توضیح می‌دهد. روش‌های ارائه‌شده نتایج حاصل از تحقیقات اخیر شامل مدارهای جلویی گیرنده، خطی‌سازی فیلتر باند پایه و تبدیل داده‌ها هستند. این تکنیک‌های سطح مدار، با روابطشان با رویکردهای کالیبراسیون در سطح سیستم در حال ظهور، برای تنظیم عملکرد مدارهای آنالوگ با کمک یا کنترل دیجیتال توصیف شده‌اند. پوشش همچنین شامل یک استراتژی برای استفاده از سنسورهای دمای روی تراشه برای اندازه‌گیری قدرت سیگنال و ویژگی‌های خطی مدارهای آنالوگ/RF است، همانطور که توسط اندازه‌گیری‌های تراشه آزمایشی نشان داده شده است.

• انواع نمونه‌های طراحی مدار آنالوگ مقاوم در برابر تغییرات را شرح می‌دهد، از جمله از قسمت‌های جلویی RF، ADC‌های با کارایی بالا و فیلترهای باند پایه؛
• شامل تکنیک‌های تست داخلی ، مرتبط با روندهای صنعتی فعلی؛
• تنظیم عملکرد به کمک دیجیتال با روش های تنظیم عملکرد آنالوگ و کاهش عدم تطابق را متعادل می کند؛
• مفاهیم نظری و همچنین نتایج تجربی را برای تراشه های آزمایشی طراحی شده با تغییرات توصیف می کند. -تکنیک های آگاه.

This book describes several techniques to address variation-related design challenges for analog blocks in mixed-signal systems-on-chip. The methods presented are results from recent research works involving receiver front-end circuits, baseband filter linearization, and data conversion. These circuit-level techniques are described, with their relationships to emerging system-level calibration approaches, to tune the performances of analog circuits with digital assistance or control. Coverage also includes a strategy to utilize on-chip temperature sensors to measure the signal power and linearity characteristics of analog/RF circuits, as demonstrated by test chip measurements.

• Describes a variety of variation-tolerant analog circuit design examples, including from RF front-ends, high-performance ADCs and baseband filters;
• Includes built-in testing techniques, linked to current industrial trends;
• Balances digitally-assisted performance tuning with analog performance tuning and mismatch reduction approaches;
• Describes theoretical concepts as well as experimental results for test chips designed with variation-aware techniques.