Advances in X-Ray Analysis: Volume 9 Proceedings of the Fourteenth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held August 25–27, 1965

مقالات ارائه شده در این جلد از پیشرفت‌ها در آنالیز اشعه ایکس از میان مقالات ارائه شده در چهاردهمین کنفرانس سالانه کاربردهای آنالیز پرتو ایکس انتخاب شدند. این کنفرانس با حمایت بخش متالورژی موسسه تحقیقاتی دنور، دانشگاه دنور، در 24، 25 و 26 آگوست 1965 در هتل آلبانی در دنور، کلرادو برگزار شد. از 56 مقاله ارائه شده در کنفرانس، 46 مقاله در این جلد گنجانده شده است. همچنین شامل یک بحث آزاد است که در مورد اثرات ترکیب شیمیایی بر روی طیف های اشعه ایکس برگزار شده است. موضوعات ارائه شده نشان دهنده دامنه وسیعی از کاربردهای اشعه ایکس در زمینه ها و رشته های مختلف است. اینها شامل زمینه هایی مانند ریزآنالیز کاوشگر الکترون، تأثیر ترکیب شیمیایی بر طیف های اشعه ایکس و استفاده از اشعه ایکس نرم و فوق نرم در تجزیه و تحلیل گسیل بود. همچنین جلساتی در مورد پراش اشعه ایکس و تجزیه و تحلیل جوهر فلوئوری شامل شد. چندین مقاله در مورد موضوعات خاص، از جمله توپوگرافی اشعه ایکس و تجزیه و تحلیل ساختار ریز جذب اشعه ایکس وجود داشت. ویلیام ال. باون با سازماندهی جلسه ای در مورد تأثیر ترکیب شیمیایی بر ساختار ظریف طیف اشعه ایکس، تلاش قابل توجهی در این کنفرانس انجام داد. یک جلسه ویژه با تلاش عالی S. P. Ong در مورد کاربردها و کاربردهای اشعه ایکس نرم در آنالیز فلورسنت تشکیل شد. ما از این مردان صمیمانه تشکر می کنیم، زیرا این دو جلسه ویژه کمک زیادی به موفقیت کنفرانس کردند.

The papers presented in this volume of Advances in X-Ray Analysis were chosen from those presented at the Fourteenth Annual Conference on the Applications of X-Ray Analysis. This conference, sponsored by the Metallurgy Division of the Denver Research Institute, University of Denver, was held on August 24,25, and 26, 1965, at the Albany Hotel in Denver, Colorado. Of the 56 papers presented at the conference, 46 are included in this volume; also included is an open discussion held on the effects of chemical com­ bination on X-ray spectra. The subjects presented represent a broad scope of applications of X-rays to a variety of fields and disciplines. These included such fields as electron-probe microanalysis, the effect of chemical combination on X-ray spectra, and the uses of soft and ultrasoft X-rays in emission analysis. Also included were sessions on X-ray diffraction and fluor­ escence analysis. There were several papers on special topics, including X-ray topography and X-ray absorption fine-structure analysis. William L. Baun contributed considerable effort toward the conference by organizing the session on the effect of chemical combination on X-ray spectra fine structure. A special session was established through the excellent efforts of S. P. Ong on the uses and applica­ tions of soft X-rays in fluorescent analysis. We offer our sincere thanks to these men, for these two special sessions contributed greatly to the success of the conference.